上海久濱儀器有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
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更新時(shí)間：2024-11-30 09:19:03瀏覽次數(shù)：92次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 儀表網(wǎng)高低溫低氣壓試驗(yàn)箱是模擬高海拔、高空、(高原地區(qū))氣候進(jìn)行貯存運(yùn)用、運(yùn)輸可靠性試驗(yàn)，并可同時(shí)對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測試設(shè)備。
一、產(chǎn)品概述：
適用于國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電池，平面顯示屏組工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品料進(jìn)行高溫、低溫，高度(不高于海拔30000米或45000米)以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)、溫度及高度綜合試驗(yàn)，高、低溫試驗(yàn)時(shí)本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。
二、設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.2A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.6-1986 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度-高度試驗(yàn)
備注：上述參數(shù)為我公司的基本參數(shù)，可根據(jù)客戶需要調(diào)整產(chǎn)品性能參數(shù);如需要詳細(xì)產(chǎn)品資料歡迎銷售部索取。
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