DUALSCOPE® FMP40
自動(dòng)識(shí)別基材，將兩種測(cè)量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鋼鐵上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行測(cè)量。
FMP40手持式涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)
l 根據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對(duì)涂層進(jìn)行非破壞性測(cè)量LI>
l 自動(dòng)識(shí)別基材（FMP40）
l 可存儲(chǔ)高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)
l 可建立多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式
l 數(shù)據(jù)*多可分為 4000個(gè)數(shù)據(jù)組
l 以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地表現(xiàn)測(cè)量結(jié)果
l 可以輸入過(guò)程公差極限并計(jì)算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk
l 當(dāng)超出公差極*，有聲音和視覺(jué)警告信號(hào)
l 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter 具有以下功能：傳輸和保存測(cè)量值，**的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估，簡(jiǎn)便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告
FMP40手持式涂層測(cè)厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
l 汽車工業(yè)
l 涂料制造與加工
l 實(shí)驗(yàn)室
l 檢測(cè)機(jī)構(gòu)
l 航空工業(yè)
FMP40手持式涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)： | 涂層測(cè)厚儀型號(hào) | DUALSCOPE FMP20 | DUALSCOPE FMP40 |
| 非鐵金屬上的油漆、陽(yáng)極氧化層、瓷漆或塑料涂層 | 可以 | 可以 |
| 鋁上的陽(yáng)極氧化層 | 可以 | 可以 |
| 鋼或鐵上的儀器、瓷漆或塑料涂層 | 可以 | 可以 |
| 鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層 | 可以 | 可以 |
| 數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 | 可以 | 可以 |
| 統(tǒng)計(jì)計(jì)算 | 可以 | 可以 |
| 打印口/RS232 接口 | 可以 | 可以 |
| 無(wú)線傳輸 | | 可以 |
| 可更換插入式智慧型探頭 | 可以 | 可以 |
| 集成恒壓探頭 | | |
| 測(cè)量范圍（μm） [mils] | 取決于探頭 | 取決于探頭 |
| 電源 | 電池 | 交流電或電池 |
| 重量[g] | 230 | 230 |
| 規(guī)格 （高 x 寬 x 深 mm） [高 x 寬 x 深 ] | 160 x 80 x 30
[4.25 x 2.6 x 1.2] | 160 x 80 x 30
[4.25 x 2.6 x 1.2] |
涂層測(cè)厚儀FMP40-可配探頭：
FD10：兩用探頭 磁感應(yīng)和渦流兩用
測(cè)量范圍：磁性：0-1300 μm，渦流，0-800 μm
FGA1.3：磁感應(yīng)探頭 常用于高精度、薄涂鍍層測(cè)量
測(cè)量范圍：0-1500μm
測(cè)量精度：0.25μm（0-50μm）
0.5%（50-1000μm）
＜2.5%（1000-1500μm）
*小可測(cè)直徑：ф2mm（誤差＜10%）；ф14mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積：ф2mm（誤差＜10%）；ф8mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材：0.2mm（誤差＜10%）
FGAB1.3：磁感應(yīng)探頭 常規(guī)測(cè)量、高精度、高讀數(shù)穩(wěn)定性
測(cè)量范圍：0-2000μm
測(cè)量精度：0.5μm（0-100μm）
0.5%（100-1000μm）
＜3%（1000-2000μm）
*小可測(cè)直徑：ф2mm（誤差＜10%）；ф18mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積：ф2mm（誤差＜10%）；ф8mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材：0.2mm（誤差＜10%）
FGABI 1.3-150 磁感應(yīng)探頭 長(zhǎng)臂探頭，*小測(cè)ф9mm孔壁涂鍍層
測(cè)量范圍：0-1000 μm
測(cè)量精度：0.5 μm（0-50 μm）
1%（50-1000μm）
*小可測(cè)直徑：ф2mm（誤差＜10%）；ф16mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積：ф2mm（誤差＜10%）；ф8mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材：0.2mm（誤差＜10%）
FTA3.3H 渦流探頭
測(cè)量范圍：0-1200 μm
測(cè)量精度：0.25 μm（0-50 μm）
0.5%（50-800 μm）
＜2%（800-1200 μm）
*小可測(cè)直徑：ф2mm（誤差＜10%）；當(dāng)ф50mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積：ф2mm（誤差＜10%）；當(dāng)ф4mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材：0.09mm（誤差＜10%）
FTA3.3 渦流探頭
測(cè)量范圍：0-1200 μm
測(cè)量精度：0.5 μm（0-100 μm）
0.5%（100-800 μm）
＜3%（800-1200 μm）
*小可測(cè)直徑：ф2mm（誤差＜10%）；當(dāng)ф50mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積：ф2mm（誤差＜10%）；當(dāng)ф4mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材：0.09mm（誤差＜10%）
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