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更新時間：2025-02-23 10:02:30瀏覽次數(shù)：24次
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相關(guān)介紹隨著高能激光的發(fā)展，對光學(xué)材料提出越來越高的要求，而光學(xué)材料由于制造工藝（生長工藝）、原材料雜質(zhì)的存在，不可避免的存在吸收
隨著高能激光的發(fā)展，對光學(xué)材料提出越來越高的要求，而光學(xué)材料由于制造工藝（生長工藝）、原材料雜質(zhì)的存在，不可避免的存在吸收。隨著光學(xué)材料研究的進(jìn)一步深入，人們對于材料吸收系數(shù)的研究越來越深刻。研究發(fā)現(xiàn)，光學(xué)材料吸收電磁波后，能將電磁波能量轉(zhuǎn)換成熱能，從而引起光學(xué)材料內(nèi)部溫度升高。大的吸收系數(shù)是限制高能激光發(fā)展的主要因素之一，尤其對于強(qiáng)激光系統(tǒng)。因此，很有必要研究光學(xué)材料的弱吸收性能。
激光熱吸收測試儀主要采用光熱共路干涉法（PCI技術(shù)）測量熱吸收。PCI技術(shù)原理圖如下： 圖中Probe beam(探測光)為一般微弱光束且其在透射過樣品時不會產(chǎn)生熱吸收， Pump beam(泵浦光)為一較強(qiáng)光束且被樣品吸收從而引起樣品被照射處折射率的變化；但在其投射到樣品前先通過一斬波器，避免泵浦光長時間連續(xù)照射而使樣品過分受熱損壞，泵浦光和探測光在樣品內(nèi)相交，前者焦斑尺寸小于后者光束截面直徑。由于泵浦光被樣品吸收從而引起焦點(diǎn)處樣品折射率發(fā)生變化，使探測光在該點(diǎn)處波前發(fā)生畸變引起點(diǎn)衍射共路干涉，產(chǎn)生Periodically phase distorted signal(周期性相位畸變信號)。PD為光強(qiáng)信號接收器，接收周期性相位畸變信號，再通過鎖相放大器交由軟件來計算并給出熱吸收率圖。 SPTS激光熱吸收測試儀的測量計算原理為：樣品對泵浦光的熱吸收引起樣品材料折射率的變化，導(dǎo)致探測光經(jīng)過吸收點(diǎn)區(qū)域后發(fā)生點(diǎn)衍射干涉，材料熱吸收強(qiáng)弱引起干涉相移不同，通過 PD則敏感地探測到探測光光強(qiáng)的變化。這樣通過光強(qiáng)的變化就可反推出樣品材料的熱吸收特征。 在實(shí)際測量中，通過移動樣品就可以實(shí)現(xiàn)對樣品的掃描測試。下圖為對一3mm樣品的水平掃描及其在實(shí)驗(yàn)觀察軟件上得到的熱吸收率圖： PCI 儀器的特點(diǎn) . 高靈敏度: 0.1 ppm . 快速: 10ms 單次, 10um – 4mm/S 掃描 樣品表面及內(nèi)部3D測量 . 對表面散射不敏感 PCI 儀器的應(yīng)用對象 . 薄膜: 高平均功率激光下的HR, AR 多層膜 . 玻璃與晶體: 激光玻璃, 藍(lán)寶石, KTP, RTP, LiTaO2,LiNbO3, LBO, BBO, PPLT, PPLN….. . 界面: 光膠 或 膠合界面 
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