蘇州微艾精密科技有限公司
產(chǎn)品型號(hào)EM-AFM
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地蘇州市
聯(lián)系方式:納米儀器查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2019-12-10 15:43:09瀏覽次數(shù):737次
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適用行業(yè) | 其他 |
EM-AFM 納米操作系統(tǒng)提供了在SEM電鏡中原子力顯微鏡成像和定量測(cè)量納米力的能力。它可將SEM和AFM這兩種顯微技術(shù)進(jìn)行聯(lián)用,提供高速高分辨率的3D形貌成像,以及微納米和亞納米尺度納牛力相互作用的實(shí)時(shí)觀測(cè)。
產(chǎn)品特性
· 同步AFM 和 SEM 成像
· 兼容市面上的主流SEM電鏡
· 超高分辨率形貌掃描
· 通過(guò)納米壓痕定量測(cè)量納米力
· 真空載鎖兼容
· 操作穩(wěn)定性高,不受SEM電子束干擾
規(guī)格參數(shù)
應(yīng)用案例
SEM-AFM圖像融合
SEM成像具有高橫向分辨率和掃描速率的優(yōu)勢(shì),結(jié)合AFM成像提供的三維形貌信息,可獲取新的而又全面的信息
亞納米成像分辨率
全閉環(huán)編碼系統(tǒng)確保在沒(méi)有圖像失真的情況下獲得超高形貌成像分辨率,同時(shí)獲取亞納米成像分辨率。
納米壓痕和拉伸測(cè)試
樣品的納米力學(xué)性能可以在該儀器中通過(guò)納米壓痕和納米拉伸測(cè)試試驗(yàn)技術(shù)進(jìn)行測(cè)量。在SEM電鏡成像下,可實(shí)時(shí)觀測(cè)壓痕和拉伸過(guò)程。軟件提供了內(nèi)置的計(jì)算工具,用于分析和顯示獲取的觀測(cè)數(shù)據(jù)。
高真空環(huán)境/SEM兼容
結(jié)構(gòu)緊湊的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB,并能夠在數(shù)秒內(nèi)完成安裝和拆卸。系統(tǒng)允許很小的工作范圍(5mm),同時(shí)兼容標(biāo)準(zhǔn)的SEM分析技術(shù)(如EDS、EBSD、WSD)。
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商鋪:http://m.caturday.cn/st121773/
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