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IGBT靜態(tài)參數(shù)主要包含:柵極-發(fā)射極閾值電壓VGE(th)、柵極-發(fā)射極漏電流lGEs、集電極-發(fā)射極截止電流lcEs、集電極-發(fā)射極飽和電壓VcE(sat)...
針對千瓦級大功率半導體激光器,普賽斯推出國產(chǎn)化極優(yōu)性價比大功率激光器老化測試系統(tǒng)解決方案.設(shè)備可擴展至4層結(jié)構(gòu),每層設(shè)計若干路,每路支持1-16只激光器芯片的串...
武漢普賽斯是國內(nèi)生產(chǎn)源表的廠家,產(chǎn)品系列豐富:產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產(chǎn)已經(jīng)過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用;精密源表+高精度數(shù)字源表認準普賽斯...
憶阻器件的評估,一般包括直流特性、脈沖特性與交流特性測試,分析器件在相應的直流、脈沖與交流作用下的憶阻特性,以及針對憶阻器件的保持力、穩(wěn)定性等非電學特性進行測量...
普賽斯第三代半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),集多種測量和分析功能一體,可以精準測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代...
普賽斯“五合一"高精度數(shù)字源表(SMU)可為高??蒲泄ぷ髡摺⑵骷y試工程師及功率模塊設(shè)計工程師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導體參數(shù)...
大電壓臺式脈沖源表具有輸出及測量電壓高(3500V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)的特點。設(shè)備工作在第一象限,輸出及測量電壓0~3500V,輸出及測量電流...
武漢普賽斯一直專注于功率器件、射頻器件以及第三代半導體領(lǐng)域電性能測試儀表與系統(tǒng)開發(fā),基于核心算法和系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺優(yōu)勢,帥先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源...
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸...
普賽斯IGBT功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),集多種測量和分析功能一體,可以精準測量IGBT功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安級電...
普賽斯S系列、P系列源表標準的SCPI指令集,Y秀的性價比,良好的售后服務與技術(shù)支持,普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家,產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善,對標2400...
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸...
傳統(tǒng)的l-V測試所用的電源只能輸出電壓或電流,無法作為負載吸收能量,而數(shù)字源表(SMU)是一種可以提供完整的四象限運行的精密儀表,綜合了電流源、電壓源、電流表、...
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸...
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸...
基于數(shù)字源表搭建的單通道及多通道太陽能電池I-V測試系統(tǒng),為光伏器件的研究、質(zhì)檢以及應用提供可靠的工具,旨在幫助科研學者節(jié)約時間用于下一個科研突破。同時提供了不...
功率半導體測試平臺1700V/1000A認準武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表,普賽斯以自主研發(fā)為導向,深耕半導體測試領(lǐng)域,在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗,先后推出了直流源...
武漢普賽斯是國內(nèi)生產(chǎn)源表的廠家,產(chǎn)品系列豐富:產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產(chǎn)已經(jīng)過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用;高精密臺式數(shù)字源表認準普賽斯儀表!
普賽斯igbt靜態(tài)測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等)的靜態(tài)...
數(shù)字源表用于光耦特性測試實驗就找普賽斯儀表,普賽斯實驗儀器采用一體化設(shè)計,集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表;貼合集成電路測試相關(guān)實驗案例,支...
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