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更新時間:2023-03-31 08:38:17瀏覽次數(shù):158次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品介紹INTRODUCTION作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器,其主要目的是對樣品進(jìn)行缺陷檢測
作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器,其主要目的是對樣品進(jìn)行缺陷檢測。
而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯誤的存在。Park NX20,這款 精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性,在半導(dǎo)體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚。
大全面的分析功能
ParkNX20具備無二的功能,可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因,并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。
的精密度為您帶來高分辨率數(shù)據(jù),讓您能夠更加專注于工作。與此同時,真正非接觸掃描模式讓探針更耐用, 無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。
即便是次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作
ParkNX20擁有業(yè)界便捷的設(shè)計和自動界面,讓您在使用時無需花費大量的時間和精力,也不用為此而時時不停的指導(dǎo)初學(xué)者。
借助這一系列特點,您可以更加專注于解決更為重大的問題,并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。
為FA和研究實驗室提供精確的形貌測量解決方案
低噪聲Z探測器可精確測量AFM表面形貌
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