南京木木西里科技有限公司
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廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地南京市
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更新時間：2023-04-01 07:55:14瀏覽次數(shù)：438次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品介紹INTRODUCTIONParkXE15具備多個特殊功能,是共享實驗室處理各類樣品、硏究員進行多變量實書笑效分析時硏究晶片等的
ParkXE15具備多個特殊功能,是共享實驗室處理各類樣品、硏究員進行多變量實書笑效分析時硏究晶片等的。合理的價格搭配強健的性能設(shè)置，使其成為業(yè)內(nèi)的大型樣品原子力顯微鏡。
MultiSample™（多重采樣™）掃描器帶來樣品測量
ParkXE15能夠?qū)崿F(xiàn)多樣品一次性自動成像，實現(xiàn)大化。您只需要將樣品放在樣品臺，再啟動掃描程序便可。該功能還可在相同環(huán)境條件下掃描樣品，從而大大提高數(shù)據(jù)的精確性和穩(wěn)定性。
可掃描大件樣品
與大多數(shù)的原子力顯微鏡不同，ParkXE15可掃描尺寸為150mmx150mm的樣品。這既滿足了研究員對掃描大件樣品的需求，也讓故障分析工程師能夠放置硅片在樣品臺上。
功能齊全，可滿足各種需求
ParkXE15配有面的掃描模式，可掃描各種尺寸的樣品，從而滿足每位研究人員的需求。
通過多重采樣™掃描進行樣品測量
無軸間耦合提高掃描精度
Non-Contact™ （真正非接觸™）模式延長針尖使用壽命、改善樣品保存及精度
提供用戶體驗
選項/模式多樣化
無掃描器弓形彎曲的平直正交XY軸掃描
park的串?dāng)_消除技術(shù)不僅改善了掃描器弓形彎曲的缺點還能夠在各種不同掃描位置,掃描速率和掃描尺寸條件下進行平直正交的XY軸掃描。
即使是最平坦的樣品也不會出現(xiàn)如光學(xué)平面,各種偏移掃描等曲率的背景。 由此可以為您在研究中遇到的所有極具挑戰(zhàn)性的問題提供高精確度的納米測量。
無耦合關(guān)系的XY和Z掃描器
Park和競爭對手最根本的區(qū)別在于掃描器的構(gòu)造，Park又獨立的XY軸與Z軸掃描器設(shè)計使其達到了的高精度的納米分辨率數(shù)據(jù)。
精確的表面測量
樣品表面平直掃描!
真正非接觸模式TM可保護針尖鋒利度
原子力顯微鏡的針尖本身很脆弱，與樣品接觸時會逐漸降低圖片質(zhì)量和分辨率。測量表面柔軟的樣品時，針尖也會破壞樣品并生成不準(zhǔn)確的樣品高度測量數(shù)據(jù)。
作為Park原子力顯微鏡最的一種掃描模式，真正非接觸模式下™可持續(xù)生成高分辨率且精確的數(shù)據(jù)從而保持樣品的完整性。
更快速的Z軸伺服使得True Non-Contact AFM有更精確的反饋
Tapping Imaging
True Non-Contact™模式
100μmx 100μm掃描范圍的XY柔性導(dǎo)向掃描器
XY掃描器含系統(tǒng)二維彎曲及強力壓電堆疊，可使極小平面外移動形成較大的正交運動，并能快速響應(yīng)，實現(xiàn)精確的樣品納米級掃描。
撓性導(dǎo)向強力Z掃描器
在強力壓電堆疊的驅(qū)動及彎曲結(jié)構(gòu)的引導(dǎo)下，其硬度允許掃描器高速豎直運動，較傳統(tǒng)原子力顯微鏡掃描器更加高速。Z型掃描范圍搭配遠(yuǎn)程Z掃描器(選配)可延長12μm至25μm。
滑動連接的超亮二極管頭
通過將原子力顯微鏡頭沿楔形軌道滑動，可輕松將其插入或取出。低相干的超發(fā)光二極管頭可實現(xiàn)高反射表面的精確成像和力一距離光譜的精確測量。超亮二極管頭的波長幫助減輕干擾問題，因此用戶在可見光譜實驗中也可使用本產(chǎn)品。
多樣品夾頭
特殊設(shè)計的多樣品夾頭，最多可承載16個獨立樣品，由多重采樣掃描器自動按順序掃描。特殊的夾頭設(shè)計為接觸樣品針尖預(yù)留了邊通道。
選配編碼器的XY自動樣品載臺
自動集成XY載臺可輕松并精確控制樣品的測量位置。XY樣品載臺的行程范圍可配置為150mmx150mm或200 m m x 200 m m。若搭配自動載臺使用編碼器，可提高樣品定位的精確度和重復(fù)性。編碼XY載臺工作時分辨率為1μm，重復(fù)率為2μm。編碼Z載臺的分辨率為0.1μm，重復(fù)率為1μm。
高分辨率數(shù)碼變焦感光元件攝像頭
高分辨率數(shù)碼感光元件攝像頭利用直接同軸光學(xué)，具備變焦功能，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質(zhì)量。
垂直對齊的電動z載臺和聚焦載臺
Z載臺和聚焦載臺可將懸臂嚙合到樣品表面上，同時確保用戶視野清晰穩(wěn)定。聚焦載臺是由軟件控制自動運行的，因此滿足透明樣品及液態(tài)元件應(yīng)用所需精度。
帶DSP控制芯片的Park XE控制電子元件
原子力顯微鏡發(fā)出的納米級信號將由高性能Park XE電子元件控制并處理。Park XE電子元件為低噪聲設(shè)計，配備高速處理單元，可成功實現(xiàn)真正非接觸TM模式，是納米級成像及電壓電流精準(zhǔn)測量的理想選擇。
多重采樣TM掃描
通過全自動樣品載臺多重采樣掃描™允許用戶自行編程，通過自動化步進掃描實現(xiàn)多區(qū)域成像。流程如下:
記錄多個掃描位置十分簡單，您可以輸入樣品一樣品載臺坐標(biāo)或使用兩個參考點校正樣品位置。該自動化功能可大大減少您在掃描過程中需要的繁瑣工作，提高效率。
高分辨率的直接同軸光學(xué)元件
用戶可直接俯視觀看樣品，操控樣品表面，從而很容易就能找到目標(biāo)區(qū)域。
高分辨率數(shù)碼攝像頭具備變焦功能，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質(zhì)量。
探針和樣品更換簡便
的頭部設(shè)計讓您可輕易地從側(cè)面更換探針和樣品。通過安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對齊的懸臂，您無需進行繁雜的激光校準(zhǔn)工作。
快速精準(zhǔn)的SLD光校準(zhǔn)
憑借我們*的預(yù)校準(zhǔn)懸臂架，懸臂在裝載時SLD光便已聚焦完畢。此外，作為行內(nèi)一家可以提供自上而下的同軸視角可以讓您輕松找到光點。
由于SLD光垂直照在懸臂上，您可通過旋轉(zhuǎn)兩個定位按鈕直觀地在X軸Y軸移動光點。這樣您可以在激光準(zhǔn)直頁面中輕易找到SLD光并將其定位在PSPD上。此時您只需要微調(diào)以得到信號，便可開始獲取數(shù)據(jù)。
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