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BX-G105教學(xué)橢偏儀 激光橢偏儀

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產(chǎn)品型號

品       牌

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更新時間：2023-06-03 10:29:19瀏覽次數(shù)：212次

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產(chǎn)品簡介

BX-G105 自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏"）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動測量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。 BX-G105儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。

詳細(xì)介紹

橢偏儀設(shè)備 橢偏儀

產(chǎn)品用途：

   BX-G105 自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動測量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。 BX-G105儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。

儀器特點(diǎn)：

1. 經(jīng)典消光法橢偏測量原理：儀器采用消光法橢偏測量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程

2. 方便安全樣品水平放置方式：才用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放

3. 緊湊的一體化結(jié)構(gòu)：集成一體化設(shè)計(jì)，簡潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用

4. 高準(zhǔn)確性的激光光源：采用激光作為探測光波，測量波長準(zhǔn)確度高

5. 豐富實(shí)用的樣品測量功能：可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等

6. 便捷的自動化操作：儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進(jìn)行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作

7.用戶使用權(quán)限管理：軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、操作者等模式），便于儀器管理和使用

8. 可擴(kuò)展的儀器功能上：利用本儀器，可通過適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測量實(shí)驗(yàn)、旋光等



關(guān)鍵詞：測厚儀

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