x射線測(cè)厚儀主要用于測(cè)量設(shè)備的生產(chǎn)中*的極薄膜、多層膜乃至半導(dǎo)體晶圓的硅膠基板厚度,膜厚儀可滿足用戶各種各樣的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。
X射線膜厚測(cè)試機(jī)采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。
在膜厚測(cè)量電路中,正弦振蕩器IC1、IC2產(chǎn)生頻率為1-100kHz的正弦波,加在變壓器B1初級(jí)上,次級(jí)輸出的正弦信號(hào)加到橋式電路的輸入端,由該橋路在非平衡狀態(tài)下獲取金屬材料表面的渦流變化;渦流變化量由檢測(cè)放大器IC3進(jìn)行適當(dāng)放大,再經(jīng)交流放大器IC4和IC5放大數(shù)十倍后,經(jīng)轉(zhuǎn)換電路將渦流變化量轉(zhuǎn)換為膜厚,由指示儀表顯示。
X射線膜厚測(cè)試機(jī)的產(chǎn)品特點(diǎn)有哪些?下面讓我們一起來(lái)了解一下吧:
1、該膜厚儀嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力,同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
2、測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
3、支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式,方便用戶自由選擇
4、實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)
5、配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定,保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性
6、支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能
7、微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板
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