1. 步入式高低溫交變濕熱室，可對(duì)一二次成套聯(lián)調(diào)設(shè)備、環(huán)網(wǎng)箱、配電箱等大型設(shè)備和材料進(jìn)行高、低溫以及不同濕度環(huán)境和陽(yáng)光輻射環(huán)境下存儲(chǔ)、運(yùn)輸和使用時(shí)的適用性測(cè)試，以評(píng)估產(chǎn)品的工作性能。

2. 步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室主要由內(nèi)箱、外箱、保溫層、送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)和電路控制系統(tǒng)組成，其中內(nèi)箱為 1.2mm 厚不銹鋼板，箱體頂部具有機(jī)械式防爆泄壓口（試驗(yàn)樣品包含鋰電池?fù)Q電柜）；外箱為耐高低溫防靜電噴塑鋼板，外箱涂層耐腐蝕防刮傷；中間保溫層為高強(qiáng)度 PU 發(fā)泡與高密度玻璃纖維棉。加熱系統(tǒng)采用熱風(fēng)循環(huán)加熱方式制熱；制冷系統(tǒng)制冷方式為水冷型，冷卻塔和制冷機(jī)組放置于室外，加熱制冷系統(tǒng)由微電腦控制器控制。電路控制系統(tǒng)主要對(duì)高低溫室起控制、監(jiān)視保護(hù)作用。

3. 步入式高低溫交變實(shí)驗(yàn)室內(nèi)預(yù)留有氙氣燈墻（氙燈掛鉤及風(fēng)冷接口），可對(duì)被試產(chǎn)品進(jìn)行陽(yáng)光輻射試驗(yàn)。

4.節(jié)能設(shè)計(jì):采用 PID+PWM 原理的 VRF（制冷劑流量控制）技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行配備冷控制 PID 自動(dòng)調(diào)節(jié)技術(shù)（在線性降溫和低溫恒溫過(guò)程中，通過(guò)冷控制 PID 調(diào)節(jié)制冷輸出量達(dá)到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術(shù)）采用該模式的設(shè)計(jì)相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 30%以上。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2006高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

步入式 交變 試驗(yàn)箱是一種大型的、用于模擬各種環(huán)境條件的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。它通常由一個(gè)大型的、密閉的、可控制溫度、濕度和壓力的箱體組成，內(nèi)部配備了各種傳感器和測(cè)量?jī)x器，以監(jiān)測(cè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中的各種參數(shù)。

這種試驗(yàn)箱通常被用于進(jìn)行各種材料和產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試，例如電子設(shè)備、汽車零部件、建筑材料、食品和藥品等。通過(guò)模擬不同的環(huán)境條件，如高溫、低溫、高濕、干燥、酸雨、鹽霧等，測(cè)試樣品在這些條件下的性能表現(xiàn)和耐受能力。

步入式 交變 試驗(yàn)箱能夠提供持續(xù)的、可重復(fù)的環(huán)境條件，以便進(jìn)行長(zhǎng)期的測(cè)試和研究。它通常可以進(jìn)行多種類型的測(cè)試，例如溫度循環(huán)測(cè)試、濕度循環(huán)測(cè)試、溫度濕度組合測(cè)試等。這些測(cè)試可以模擬實(shí)際使用環(huán)境中的各種條件，以評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和耐用性。

在實(shí)際應(yīng)用中，步入式交變?cè)囼?yàn)箱已經(jīng)成為許多行業(yè)的重要工具。例如，在汽車制造業(yè)中，它被用于測(cè)試汽車零部件在不同環(huán)境條件下的性能表現(xiàn)，以確保汽車在各種氣候和環(huán)境條件下的可靠性。在電子行業(yè)中，它被用于測(cè)試各種電子產(chǎn)品的性能表現(xiàn)和耐受能力，以確保產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性。