重慶德源勝儀器有限公司
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所 在 地重慶
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更新時(shí)間：2024-05-14 07:47:27瀏覽次數(shù)：129次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 儀表網(wǎng)UV-LED365/30是MAGNAFLUX新推出的新一代吊頂式黑光燈，采用的環(huán)保節(jié)能的UVLED光源系統(tǒng)，可廣泛用于無損檢測行業(yè)的熒光滲透探傷和熒光磁粉探傷
UV-LED 365/30是MAGNAFLUX 新推出的新一代吊頂式黑光燈，采用的環(huán)保節(jié)能的UV LED光源系統(tǒng)，可廣泛用于無損檢測行業(yè)的熒光滲透探傷和熒光磁粉探傷。該紫外LED光源可產(chǎn)生360 -370納米波長范圍紫外光的紫外光(長波紫外線)，并且光源輸出穩(wěn)定(在整個(gè)使用周期內(nèi)不會出現(xiàn)任何衰減)，照射范圍廣，照射面積內(nèi)紫外光強(qiáng)度均勻。由于UV LED不會產(chǎn)生任何對人眼有害的中波紫外線或紫外輻射，所以操作人員只需佩戴簡單的防紫外眼鏡即可。LED光源的另一大優(yōu)勢就是使用壽命遠(yuǎn)遠(yuǎn)長于普通黑光燈，其燈體的壽命提高到了50,000小時(shí)。
特色
? 真正的LED UV-A光源，無需濾光片
? 檢驗(yàn)認(rèn)證，嚴(yán)格確保波長長時(shí)間穩(wěn)定于360 – 370納米之間
? 高50,000小時(shí)壽命的LED燈
? 超靜無風(fēng)扇散熱機(jī)構(gòu)，保持安靜舒適的工作環(huán)境
? 易于安裝，方便地照射角度調(diào)節(jié)
? 符合ASTM規(guī)范要求
? 外殼堅(jiān)固耐用，抵御現(xiàn)場的嚴(yán)苛條件
規(guī)格參數(shù)
? UV光源: 30個(gè)UV-LED燈組
? 波 長: 365 ± 5 nm
? UV-A輸出(EUV-A): 6,500 μW/cm2（距燈400mm處 ）
? UV-B/C輻射: 0 W/m2
? 白光亮度: < 22 Lux
? EM 6使用風(fēng)險(xiǎn)等級: 2 (EM06 / DGZfP)
? 燈罩表面溫度: 1小時(shí)后< 40° C / 104° F
8小時(shí)后: < 40° C / 104° F
? 工作電壓: 24 V DC
? 輸入電壓: 85-240 V AC / 47-63HZ
? 測量的電源輸入: 430 mA
? 大電源輸入: 700 mA
? 暫載率: 99%
? 防護(hù)等級: IP 65
應(yīng)用范圍
可廣泛用于無損檢測行業(yè)的熒光滲透探傷和熒光磁粉探傷。
件號及包裝形式
MAGNAFLUX將為您提供迅捷、高效、本土化的服務(wù)與技術(shù)支持，確保您的檢測設(shè)備和材料可靠的運(yùn)行，并為您帶來大的價(jià)值。
我們專業(yè)的工程師團(tuán)隊(duì)可以為您提供現(xiàn)場的技術(shù)支持與服務(wù),包括MAGNAFLUX耗材、附件和設(shè)備的操作與使用，設(shè)備的維護(hù)與維修，無損檢測相關(guān)知識與操作的培訓(xùn)等。如需此類服務(wù)，請與我們的客戶服務(wù)部門聯(lián)系，安排現(xiàn)場服務(wù)。
Magnaflux美國磁通是表面和次表面探傷產(chǎn)品領(lǐng)域的跨國企業(yè)，其產(chǎn)品覆蓋磁粉探傷、滲透探傷用化學(xué)材料和設(shè)備以及其它無損檢測相關(guān)的附件產(chǎn)品。
美國磁通在無損檢測領(lǐng)域擁有超過80年的歷史。20世紀(jì)20年代初，工業(yè)領(lǐng)域迫切需要一種價(jià)格低廉而可靠的檢測方式來確定大批量生產(chǎn)的機(jī)械和結(jié)構(gòu)零件的表面裂紋和缺陷。1929年，美國麻省理工的教授、研究工程師A.V. de Forest與化學(xué)家、商學(xué)碩士F. B. Doane共同創(chuàng)立了一家專門進(jìn)行無損探傷的公司，并于1934年正式命名為Magnaflux。1930年Doane先生在位于匹茲堡的家中地下室研制出了世界磁粉探傷機(jī)原型機(jī)，1933年將其商業(yè)化由此誕生了臺商用磁探機(jī)Magnaflux M-150。1936年，美國和的航空兵明確了在其制造維修工廠采用美國磁通的標(biāo)準(zhǔn)。以此為基礎(chǔ)，發(fā)展了美國的磁粉探傷和滲透探傷的標(biāo)準(zhǔn)體系。1941年，美國磁通獲得熒光磁粉的技術(shù)，創(chuàng)造了一種全新的無損探傷方法——熒光磁粉探傷。
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