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更新時間:2024-06-17 07:38:34瀏覽次數(shù):131次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)XUV®773X射線熒光測試儀商品介紹FISCHERSCOPEX-RAYXUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱
XUV® 773 X射線熒光測試儀 商品介紹
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測 器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號計數(shù)率,使儀器可以達(dá)到極小的重復(fù)精度和極低的測量下限。XUV非常適合測量極薄的鍍層和痕量分析。
采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合,能夠保證每 一次的測量都在佳的條件下完成。在測量的同時,可以直觀地查看測量點(diǎn)的影像。儀器測量空間寬大,樣品放置便捷,配合可編程的XYZ軸工作臺,既適合測量平面、大型板材類樣品,也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測量分析鍍層 厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置,進(jìn)一步方便了 樣品的快速定位。
基于儀器的通用設(shè)計以及真空測量箱所帶來的擴(kuò)展的 測量能力,使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用 于研究和開發(fā),也非常適合過程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。
XUV® 773 X射線熒光測試儀 商品特點(diǎn)
帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管,可選鎢管和鉬管。高工作條件:50 kV, 50W
X射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓杵?span style="line-height:1.5;">探測器
準(zhǔn)直器:4個,可自動切換,從直徑0.1mm到3mm
基本濾片:6個,可自動切換
可編程XYZ工作臺
攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置??潭染€經(jīng)過校準(zhǔn),顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
可在真空,空氣或者氦氣的環(huán)境下工作
XUV® 773 X射線熒光測試儀 商品應(yīng)用
測量輕元素
測量超薄鍍層和痕量分析
常規(guī)金屬分析鑒定
非破壞式寶石分析
太陽能光伏產(chǎn)業(yè)
XUV® 773 X射線熒光測試儀 實(shí)例應(yīng)用
種類、來源和真實(shí)性,是評估寶石價值的本質(zhì)特征;而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素。通常,寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物,還會伴隨有鎂和鈉等元素。另外,Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。
在多個領(lǐng)域的應(yīng)用中,非常薄的Al鍍層、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測量結(jié)果有顯著的提高。使用XUV來測量這些鍍層,重復(fù)精度僅幾個納米。
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