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更新時間：2023-03-25 17:54:07瀏覽次數(shù)：1308次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	進(jìn)口	加工定制	否

SEMILAB壽命測量裝置WT-2000MCT
壽命測定裝置WT-2000（μPCD載體壽命）,壽命測量裝置WT-2000MCT,SPV設(shè)備FAaST 310/210 SPV,FAaST 350 DSPV,載流子壽命測定裝置WT-2000/2A

詳情介紹

SEMILAB壽命測量裝置WT-2000MCT

壽命測定裝置WT-2000（μPCD載體壽命）,壽命測量裝置WT-2000MCT,SPV設(shè)備FAaST 310/210 SPV,FAaST 350 DSPV,載流子壽命測定裝置WT-2000/2A

產(chǎn)品介紹

壽命測量裝置 WT-2000 是一個功能強(qiáng)大的臺式測量平臺，能夠執(zhí)行許多不同的半導(dǎo)體材料表征?；鞠到y(tǒng)包括執(zhí)行表征所需的所有間接功能，包括電源、計算機(jī)、操作軟件和 XY 測量臺。該系列通常用于創(chuàng)建地圖，在地圖上使用可編程光柵掃描晶圓。WT-2000 還允許在特定的可編程位置進(jìn)行測量。除了硅，SEMILAB 還經(jīng)營使用短波長激發(fā)激光的寬禁帶半導(dǎo)體（SiC、GaN）的壽命測量設(shè)備。

WT-2000MCT 專為不同樣品溫度下的 µ-PCD 壽命測量而設(shè)計。

除了硅，SEMILAB 還經(jīng)營使用短波長激發(fā)激光的寬禁帶半導(dǎo)體（SiC、GaN）的壽命測量設(shè)備。

FAaST 310/210 SPV 裝置在適合研發(fā)和小批量制造環(huán)境的設(shè)計中提供快速、全晶圓污染成像。

FAaST 330/230 DSPV 裝置可對重金屬污染進(jìn)行非接觸式高速在線監(jiān)測。可以進(jìn)行晶圓處理。

FAaST 350 DSPV 裝置是重金屬污染非接觸式高速監(jiān)測旗艦平臺。能夠檢測低于 10 8 個原子/ cm -3的鐵并從雙 FOUP 裝載端口裝載站自動處理晶圓，它能夠支持苛刻的大批量生產(chǎn)環(huán)境。

WT-2000 是中型制造工廠和實驗室的推薦裝置。