東莞市科建檢測儀器有限公司
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閱讀:1545發(fā)布時間:2013-4-6
二次元投影儀
一、工作原理
二次元是指直角坐標(biāo)系中的X,Y二維坐標(biāo),在臥式結(jié)構(gòu)中是指X,Z軸二維坐標(biāo);
投影儀通過光學(xué)凸透鏡的放大,將較小的被測工件在投影屏上形成較大的圖像。測量投影儀就是以此為原理而進(jìn)行測量和觀察工件的裝置。
如圖 所示,被測工件Y 置于工作臺上,在透射或反射照明下,它由物鏡0 成放大實象Y'(倒像)并經(jīng)反光鏡M1 與M2 反射于投影屏P 的磨沙面上。當(dāng)反光鏡M1 換成正像系統(tǒng)后,Y'即成為正像,一個與工件*同向的影像,觀察很直觀,給使用者帶來極大的方便,CPJ-30XXAZ 即正像投影儀.在投影屏上可用標(biāo)準(zhǔn)玻璃工作尺對Y'進(jìn)行測量,也可以用預(yù)先繪制好的標(biāo)準(zhǔn)放大圖對它進(jìn)行比較測量。測得的數(shù)值除以物鏡的放大倍數(shù)即是工件的測量尺寸。還可以利用工作臺上的數(shù)字測量系統(tǒng)對工件Y 進(jìn)行坐標(biāo)測量;也可利用投影屏旋轉(zhuǎn)角度數(shù)顯系統(tǒng)對工件的角度進(jìn)行測量。圖中S1 與S2 分別為透射和反射照明光源,K1 與K2 分別為透射和反射聚光鏡。視工件的性質(zhì),兩種照明可分別使用,也可同時使用。半透半反鏡L 僅僅在反射照明時才使用。
二、分類:
分為立式(X,Y坐標(biāo))和臥式(X,Z坐標(biāo))
三、的應(yīng)用:
主要應(yīng)用于二維尺寸的精密測量,測量精度可達(dá)0.001mm級,被廣泛應(yīng)用于模具制造、電子、五金等行各業(yè)的精密檢測。
隨著科技的發(fā)展和技術(shù)的進(jìn)步,測量投影儀由早期的簡單的輪廓比對,發(fā)展成為二維測量,并出現(xiàn)了,X、Y、Z三軸電動控制和計算機軟件支持等新技術(shù)。
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