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JEM-F200場發(fā)射透射電鏡

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地深圳市

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更新時間：2023-12-05 11:01:42瀏覽次數(shù)：197次

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經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：273條

所在地區(qū)：廣東深圳市

產(chǎn)品簡介

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)

詳細(xì)介紹

  • 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

  • 外觀設(shè)計(jì)精煉
  • 精煉的外型，全新的視覺感受。
    為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI，使操作更加直觀方便。
    JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn)，與舊機(jī)型相比，電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。
  • 四級聚光鏡系統(tǒng)
  • 現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術(shù)。 該設(shè)備采用新型四級聚光鏡照射光學(xué)系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system"，通過分別控制電子束強(qiáng)度和匯聚角，能滿足各種研究的需求。
  • 掃描系統(tǒng)
  • JEM-F200可以實(shí)現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析，該設(shè)備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System" 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能（選配）。
  • 皮米樣品臺驅(qū)動
  • JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive（不用壓電驅(qū)動），能在寬動態(tài)范圍移動視野-從樣品的整個柵網(wǎng)視野移動到原子級圖像視野移動都能進(jìn)行。
  • SpecPorter（自動插入和拔出樣品桿的裝置）
  • 插入和拔出樣品桿，對電鏡初學(xué)者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在的位置上，只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。
  • 改進(jìn)的冷場發(fā)射電子槍
  • JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍（選配），該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析，高亮度的電子束縮短了分析時間，并且還降低了來自光源的色差，實(shí)現(xiàn)了高分辨率的觀察。
  • 雙能譜（SDD）
  • JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器（SDD）（選配件）。 憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對樣品的損傷更小。
  • 環(huán)保節(jié)能
  • JEM-F200是個標(biāo)配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時的1/5，可以在裝置不運(yùn)行時，以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設(shè)備具有排程功能，能在的時間將電鏡從ECO模式恢復(fù)到工作狀態(tài)。

技術(shù)參數(shù)：


超高分辨極靴		 高分辨極靴
分辨率
TEM點(diǎn)分辨率 0.19 nm 0.23 nm
STEM-HAADF 像 0.14 nm @冷場槍 0.16 nm @冷場槍
0.16 nm @熱場槍 0.19 nm @熱場槍
加速電壓 200 , 80 kV 200 , 80 kV
主要選配件 能譜儀（EDS）、電子能量損失譜儀（EELS）、CCD相機(jī)、TEM/STEM斷層掃描系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：電子顯微鏡 顯微鏡

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