性能參數(shù)
1.V級(jí)精度
a.支持參數(shù)測試 1 GHz
b.第三方認(rèn)證
2.不平衡電阻測量
a.支持IEEE 802.3af 和IEEE 802.3at PoE 檢測
b.滿足TIA、 ISO和IEEE 等標(biāo)準(zhǔn)要求
3.TCL 和ELTCTL 平衡測量
a.良好的平衡意味著對(duì)外部噪聲干擾的免疫力更強(qiáng)
b.滿足 TIA和 ISO標(biāo)準(zhǔn)要求
c.關(guān)鍵的噪聲環(huán)境
4.屏蔽效果測試
a.數(shù)據(jù)中心的機(jī)架地導(dǎo)致屏蔽測試誤“ PASS"
b.如果屏蔽層本身開路， Wire Map(接線圖)測試結(jié)果顯示“PASS"
c.DSX則會(huì)報(bào)告開路的位置
5.儀器內(nèi)置項(xiàng)目管理功能
a.可以預(yù)先配置多個(gè)設(shè)置不同項(xiàng)目
b.防止出錯(cuò)，比如選擇了錯(cuò)誤的極限值
c.用USB傳遞配置給測試儀，也可以用USB盤傳遞
6.內(nèi)建外部串?dāng)_測試功能
a.支持?jǐn)?shù)據(jù)中心的10GBASE-T鏈路的外部串?dāng)_測試
b.支持ISO 和TIA標(biāo)準(zhǔn)
7.CDNEXT 測試
a.共模-差模NEXT測量
b.外部串?dāng)_問題的診斷工具
8.存儲(chǔ)超過10,000 個(gè)測試結(jié)果
a.Cat6A/Class EA測試結(jié)果含曲線數(shù)據(jù)和診斷數(shù)據(jù)
9.NEXT 和RL 診斷
a.HDTDR 可定位阻抗異常– 并存儲(chǔ)輸出結(jié)果
b.HDTDX 可定位串?dāng)_問題 – 并存儲(chǔ)輸出結(jié)果
10.滿足環(huán)通量(EF)測試要求
a.光源符合EF要求
b.匹配的測試參考跳線(符合TIA TSB-4979標(biāo)準(zhǔn)要求)
c.ANSI/TIA-526-14-B 和 IEC 61280-4-2要求EF測試
d.線纜供應(yīng)商/制造商開始要求EF測試(質(zhì)保前提)
11.3 秒完成自動(dòng)測試
a.850 nm 和 1300 nm多模雙光纖測試
b.1310 nm 和 1550 nm 單模雙光纖測試
12.1 跟跳線基準(zhǔn)設(shè)置(SC、LC、 ST 和 FC連接器)
a.光纜質(zhì)保要求使用1根跳線設(shè)置參考值
b.要求光功率計(jì)端口是可更換的
13.測試參考跳線驗(yàn)證鑒定
a.內(nèi)建圖形化參考設(shè)置引導(dǎo)流程
b.包含測試參考跳線(TRCs)的檢定圖示流程
c.TRC 檢定結(jié)果自動(dòng)保存
14.內(nèi)置可是故障定位儀(VFL)
a.定位光纖過度彎曲和機(jī)架連接部位的破損問題
b.驗(yàn)證光纖極性
15.Quad光纖測試模快
a.雙端口光源(850/1300 nm 端口和 1310/1550 nm端口)
b.輸入端口4波長校準(zhǔn)(850 nm、1300 nm、1310 nm 和1550 nm)
16.一次存儲(chǔ)兩根光纖結(jié)果
a.遠(yuǎn)端單元的測試結(jié)果自動(dòng)發(fā)送到主機(jī)并進(jìn)行分析和結(jié)果保存
17.內(nèi)置對(duì)講機(jī)(有線)
a.通過單多模光纖進(jìn)行全雙工對(duì)講
18.結(jié)果管理
a.測試結(jié)果統(tǒng)計(jì)分析
b.合并與一體的OLTS、光纖端面檢查結(jié)果
c.內(nèi)置PDF輸出功能
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