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GDDR7 Memory Test System

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參   考   價(jià): ￥ 1

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)M5512

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地深圳市

聯(lián)系方式：侯查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2024-05-16 09:35:56瀏覽次數(shù)：167次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)地 進(jìn)口 加工定制 是

M5512 GDDR7 Memory Test System

ATE-on-Bench for GDDR7 Characterization and Test

詳細(xì)介紹

GDDR7 Memory Test System

M5512 GDDR7 Memory Test System

BENEFITS

Fastest time to market: perform deep memory read/write operations and characterize electrical and timing specifications

Most capable PAM3 signaling: leveraging years of expertise in SerDes technology, the PAM3 pin-electronics exceed the requirements of the GDDR7 specifications

Automated: scripting capability ideal for debug tasks, verification, and full‐fledged production screening of devices and system boards

M5512 GDDR7內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)
用于GDDR7表征和測(cè)試的臺(tái)架ATE
利益
上市時(shí)間：執(zhí)行深度內(nèi)存讀/寫操作，并確定電氣和時(shí)序規(guī)格
強(qiáng)大的PAM3信號(hào)：利用SerDes技術(shù)多年的專業(yè)知識(shí)，PAM3引腳電子器件超過了GDDR7規(guī)范的要求
自動(dòng)化：腳本功能非常適合調(diào)試任務(wù)、驗(yàn)證以及設(shè)備和系統(tǒng)板的全面生產(chǎn)篩選



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