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卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，柔性電子標(biāo)簽等卡的彎曲和扭曲性能測試。
卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)結(jié)構(gòu)及功能：該設(shè)備采用彎曲和扭曲兩種模式，采用PLC控制，觸摸屏操作，試驗(yàn)次數(shù)可設(shè)置，達(dá)到試驗(yàn)次數(shù)自動(dòng)停機(jī)，試驗(yàn)結(jié)束后，檢查卡是否有可測試的功能。
卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)療保險(xiǎn)卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì)員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測試和分板研究，深受廣大用戶青睞。
本儀器針對(duì)性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：
1. 型號(hào)：HY-IC
2. 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
3. 正反向各15°，總扭曲角度30°
4.測試周期：1~9999次
5.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.長邊小位移量為2mm±0.50mm
8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.長邊小位移量為1mm±0.50mm
10.電 壓：AC220V±5%
11.外形尺寸：L670 X W380 X H220
12.功 率：35W
13.儀器重量：70kg
標(biāo)準(zhǔn)雙向扭轉(zhuǎn)：
長邊彎曲工位數(shù)：5工位
短邊彎曲工位數(shù)：5工位
雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù)：5工位
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