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BIC半導體動態(tài)老化試驗箱

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品       牌

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更新時間：2025-01-27 10:30:53瀏覽次數(shù)：35次

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BIC半導體動態(tài)老化試驗箱主要應用于半導體廠(晶圓、封裝、測試)可靠度或高溫老化試驗及資料分析；可提供軟硬體測試系統(tǒng)設(shè)計及規(guī)化服務，依用戶端需求設(shè)計軟體畫面及報表輸出，由泰琪提供完整軟硬體測試解決方案
BIC半導體動態(tài)老化試驗箱

  • 主要應用于半導體廠(晶圓 、封裝 、測試…)可靠度或高溫老化試驗及資料分析；可提供軟硬體測試系統(tǒng)設(shè)計及規(guī)化服務，依用戶端需求設(shè)計軟體畫面及報表輸出，由泰琪提供完整軟硬體測試解決方案。

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