當(dāng)前位置:深圳市鼎極天電子有限公司>>X射線測厚儀>> X-Strata920穿透式紅外X射線測厚儀現(xiàn)貨供應(yīng)
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號X-Strata920
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
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更新時間:2017-08-03 14:34:52瀏覽次數(shù):464次
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穿透式紅外X射線測厚儀的自動操作系統(tǒng)為用戶提供方便可靠的鍍層測厚、鍍液分析、簡單元素分析或貴金屬分析方案。標(biāo)準(zhǔn)配置為20倍彩色CCD系統(tǒng)用于樣品圖象觀察
穿透式紅外X射線測厚儀現(xiàn)貨供應(yīng)工作原理
對被測樣品發(fā)射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度,X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
測厚范圍
取決于鍍層的具體應(yīng)用。
穿透式紅外X射線測厚儀現(xiàn)貨供應(yīng)主要特點
可測元素范圍:鈦Ti22---鈾U92;
可測定5層(4層鍍層 底材層)鍍層,同時分析15種元素,自動修正X射線重疊譜線;
進行貴金屬檢測,如Au karat評價;
材料鑒別和分類檢測,材料和合金元素分析,元素光譜定性分析;
測量精度高、穩(wěn)定性好,測量結(jié)果精確至μin;
強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能,測量結(jié)果輸出多樣化;
擁有NIST認證的標(biāo)準(zhǔn)片;
提供服務(wù)及。
穿透式紅外X射線測厚儀現(xiàn)貨供應(yīng)適用范圍
用于電子元器件、半導(dǎo)體、PCB、FPC、LED支架、連接器、端子、衛(wèi)浴潔具、五金件、汽車零部件、首飾飾品、裝飾件、功能性電鍍……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量;
測量鍍層,金屬涂層,薄膜的厚度或液體(鍍液的成分分析)組成。
穿透式紅外X射線測厚儀現(xiàn)貨供應(yīng)技術(shù)參數(shù)
項目名稱 | 具體描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射線激發(fā)系統(tǒng) | ·垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng) ·50W(50kV,1.0mA)空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
準(zhǔn)直器系統(tǒng) | ·單準(zhǔn)直器組件; ·多準(zhǔn)直器自動控制組件:zui多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 ·園形、正方形、矩形和多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選(紅色為常用的):
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測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,zui小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準(zhǔn)直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品室 | 開槽式樣品室,測量大型平板樣品,如尺寸大于儀器寬度的線路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣 品 臺 |
固定樣品臺 ·Z軸自動控制,移動行程:43mm (1.7"),XY軸手動控制 ·zui大樣品高度33mm ·儀器外形尺寸(寬×深×高):407×770×305mm(16×30.3×12") | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
加深樣品臺 ·Z軸自動控制,移動行程:43mm (1.7"),XY軸手動控制 ·zui大樣品高度160mm ·樣品倉有4個位置卡槽,相鄰卡槽垂直間距25.4mm,樣品臺支架可放置在不同位置的卡槽上,可測不同高度的樣品 ·樣品倉內(nèi)部尺寸(寬×深×高):279×508×152mm(11×20×6”) ·儀器外形尺寸(寬×深×高):407×770×400mm(16×30.3×15.7") ·自定義樣品臺:依據(jù)客戶要求提供更高的樣品臺,滿足高度>160mm的樣品測量,倉內(nèi)設(shè)置多個位置卡槽,相鄰卡槽垂直間距25.4mm
自動樣品臺 ·Z軸自動控制,移動行程:43mm(1.7") ·XY軸自動控制,樣品臺移動行程:178×178mm(7x7”) ·zui大樣品高度33mm ·樣品臺尺寸(寬×深):610×560mm(24×22”) ·儀器外形尺寸(寬×深×高):610×1037×375mm(24×40.8×14.8") ·可提供對樣品的自動和編程控制,多點測量 ·鼠標(biāo)控制樣品臺移動,精確地定位樣品測量點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
鐳射聚焦 | ·鐳射用于自動精確定位X射線光管/探測器與樣品到測試距離 ·單擊鼠標(biāo),Z軸自動掃描 ·Z軸自動聚焦到焦距12.7mm,同時將樣品圖像定焦(顯示在屏幕上) ·避免了人為操作誤差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品觀察系統(tǒng) | ·高分辨率彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍 ·可選50倍和100倍觀察系統(tǒng) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
結(jié)果輸出 | ·測量數(shù)據(jù)報告可直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF文件、Excel文件,為質(zhì)量管理保留寶貴的原始資料 ·測量數(shù)據(jù)報告可包含測量數(shù)據(jù)、測量樣品圖像、各種統(tǒng)計分析圖表、自定義的報告模板(系統(tǒng)預(yù)置模板、含用戶信息的自制模板) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
計算機系統(tǒng)配置 | ·IBM計算機 ·佳能彩色噴墨打印機 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析應(yīng)用軟件 | ·操作系統(tǒng):Windows XP中文平臺 ·分析軟件包:SmartLink FP軟件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系統(tǒng)安全性 | ·Z軸保護傳感器 ·安全防射線光閘 ·樣品室門開閉傳感器 ·X射線鎖 ·X射線警示燈 ·緊急停止按鈕 ·前面板安全鈕和后面板安全鎖 ·多用戶密碼保護,只向日常操作員設(shè)定有限的*,操作界面簡單,功能受限 ·主管人員可進行系統(tǒng)維護 ·系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄 ·開啟“自動鎖定”功能可以防止未*人員使用;測量結(jié)束后,超過預(yù)設(shè)的時*,軟件鎖定并要求輸入密碼 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量自動化功能 | 鼠標(biāo)激活測量模式:“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復(fù)測量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量位置預(yù)覽功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光對焦和自動對焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
統(tǒng)計計算功能 | 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任選軟件:統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數(shù)據(jù)庫存儲功能 |
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