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當(dāng)前位置:深圳市鼎極天電子有限公司>>膜厚儀>> MAXXI 5優(yōu)質(zhì)手持式磁感應(yīng)膜厚儀-測(cè)厚儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)MAXXI 5
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
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更新時(shí)間:2018-01-31 11:12:16瀏覽次數(shù):554次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)X射線熒光鍍層測(cè)厚儀廠家報(bào)價(jià)-膜厚計(jì)
產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
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優(yōu)質(zhì)手持式磁感應(yīng)膜厚儀可應(yīng)用來(lái)精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
優(yōu)質(zhì)手持式磁感應(yīng)膜厚儀批發(fā)價(jià)格原理:
膜厚儀是采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小, 來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。
優(yōu)質(zhì)手持式磁感應(yīng)膜厚儀批發(fā)價(jià)格操作指導(dǎo):
1)當(dāng)測(cè)量中出現(xiàn)示值顯示不穩(wěn)定現(xiàn)象時(shí),其主要原因可能是工件自身材料結(jié)構(gòu)的特殊性影響,例如工件本身可能是磁性材料,如果確認(rèn)是磁性材料,那么就應(yīng)該選擇磁性涂鍍層膜厚儀;如果工件為導(dǎo)電體,就應(yīng)該選擇渦流涂鍍層膜厚儀。另外工件的表面粗糙度和附著物也會(huì)引起儀器示值顯示不穩(wěn)定,例如工件表面粗糙度過(guò)大、表面附著物太多,測(cè)量時(shí),側(cè)頭不能準(zhǔn)確穩(wěn)定地接觸工件,因而造成測(cè)量示數(shù)波動(dòng)。排除故障主要就是將粗糙度比較大的工件打磨平整,除去表面附著物,并且選擇合適的涂層膜厚儀;
2)測(cè)量結(jié)果誤差太多。引起涂鍍層膜厚儀測(cè)量誤差大的原因主要有基體金屬磁化、基體金屬厚度過(guò)小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過(guò)小、表面粗糙度過(guò)大、磁場(chǎng)干擾和測(cè)頭的放置方法等。在測(cè)量時(shí)應(yīng)該逐一進(jìn)行考慮并認(rèn)真研究,zui大程度地排除干擾,使測(cè)量準(zhǔn)確;
3)當(dāng)儀器長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)應(yīng)該取出電池,在使用過(guò)程中,如果儀器出現(xiàn)低電壓提示,應(yīng)該及時(shí)為儀器更換電池,更換電池時(shí)要注意電池極性,防止裝反,并且要使用正規(guī)廠家生產(chǎn)的優(yōu)質(zhì)電池,從而避免因?yàn)殡姵氐男孤抖廴緝x器甚至導(dǎo)致儀器的損壞;
4)在具體測(cè)量過(guò)程中,儀器每次的測(cè)量數(shù)據(jù)通常都有一定波動(dòng),一次測(cè)量誤差太大,因此在測(cè)量時(shí)必須在每一測(cè)量面積內(nèi)反復(fù)多次測(cè)量讀數(shù),處理數(shù)據(jù)時(shí)要排除誤差過(guò)大的數(shù)據(jù),對(duì)波動(dòng)值取平均值,以zui大程度地降低因操作和儀器引起的測(cè)量誤差。一般來(lái)說(shuō),測(cè)量次數(shù)越多,zui終數(shù)據(jù)越接近準(zhǔn)確值,但是為了操作簡(jiǎn)便,一般每一測(cè)量面積內(nèi)進(jìn)行三到五次測(cè)量;
5)在測(cè)量時(shí)應(yīng)該注意儀器的zui大臨界厚度值,因?yàn)槿绻ぜ穸冗^(guò)大乃至超過(guò)儀器測(cè)量的臨界厚度值,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。因此在測(cè)量前一定要檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,如果超過(guò)了,就需要進(jìn)行適當(dāng)校準(zhǔn),保證要測(cè)量正常準(zhǔn)確進(jìn)行;
6)試件表面附著物在很大程度上影響著測(cè)量穩(wěn)定性和測(cè)量精度,因此在測(cè)量前必須首先清除試件表面附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但是注意不要除去任何覆蓋層物質(zhì),在保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接穩(wěn)定接觸的情況下不減少覆蓋層厚度。
優(yōu)質(zhì)手持式磁感應(yīng)膜厚儀批發(fā)價(jià)格儀器要求
鍍層厚度要求在陰極表面上分布的均勻性和完整性,是決定鍍層厚度要求質(zhì)量的一個(gè)重要因素,它在一定程度上影響著鍍層厚度要求的防護(hù)性能。在電鍍中常用分散能力和覆蓋能力來(lái)分別評(píng)定金屬鍍層厚度要求在陰極上分布的均勻性和完整性。鍍層厚度要求在零件上分布的完整程度。覆蓋能力越高,鍍得越深,覆蓋能力差,在零件凹處就鍍不上金屬鍍層厚度要求。 鍍液的分散能力與覆蓋能力的含義不同,要注意區(qū)別,不要混淆。
儀器參數(shù)
型號(hào) | MAXXI 5 | MAXXI 5 PIN | 備注 |
測(cè)量元素范圍 | Ti22---U92 |
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鍍層和成分分析 | Ø 鍍層:zui多同時(shí)測(cè)定5層(4層鍍層+基體材料) Ø 成分:zui多同時(shí)測(cè)量20種元素 |
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測(cè)量方法 | Ø FP(經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)法),無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)樣片 |
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X射線激發(fā) | Ø 50Kv、1.2mA(60W)高壓發(fā)生器 Ø 微聚焦W靶X射線管 |
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成像系統(tǒng) | Ø 彩色視頻系統(tǒng) Ø 20倍放大倍數(shù) Ø 被測(cè)樣品圖像實(shí)時(shí)顯示功能 Ø 電腦顯示屏具有畫(huà)中畫(huà)功能 |
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計(jì)算機(jī)系統(tǒng) | Ø Inter Pentium G2030,內(nèi)存2G,硬盤(pán)500G Ø 17吋液晶彩色顯示器 Ø MicrosoftTM Win7 32bit |
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樣品臺(tái)規(guī)格 | Ø X-Y手動(dòng)樣品臺(tái):600×600mm,zui大承重25Kg,zui大樣品高度175mm或350mm可調(diào) Ø X-Y程控樣品臺(tái):X-Y臺(tái)面尺寸300×250mm,zui大承重5Kg,zui大樣品高度180mm,程控距離X=300mm、Y=250mm |
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儀器外形 | 長(zhǎng)×寬×高700×770×700mm(不含電腦、顯示器) |
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zui大樣品 | Ø X-Y手動(dòng)樣品臺(tái):長(zhǎng)×寬×高600×500×350mm Ø X-Y程控樣品臺(tái):長(zhǎng)×寬×高600×500×180mm |
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程控Z軸移動(dòng)距離 | ≤180mm,可使用鼠標(biāo)或手柄控制 |
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主機(jī)重量 | 90Kg(不含電腦、顯示器) |
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準(zhǔn)直器規(guī)格 | Ø 可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器 Ø 多準(zhǔn)直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準(zhǔn)直器 Ø 單準(zhǔn)直器任選:Ø0.2、Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.3mm Ø 多準(zhǔn)直器選項(xiàng):①Ø0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm;②Ø0.1、Ø0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm | Ø 可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器 Ø 多準(zhǔn)直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準(zhǔn)直器 Ø 單準(zhǔn)直器任選:Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5、0.2×0.5mm Ø 多準(zhǔn)直器:Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm |
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探測(cè)器 | 正比例計(jì)數(shù)器 | 25mm2半導(dǎo)體(Si-PIN)探測(cè)器,Peltier電制冷 |
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軟件模塊可選 | μ-Master用于鍍層測(cè)量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析(珠寶) Report-Master用于微軟報(bào)告文件 Data-Master用于數(shù)據(jù)庫(kù)管理 Liquid-Master用于電鍍液分析 |
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產(chǎn)地 | 德國(guó) |
功能:
測(cè)量時(shí),連續(xù)顯示/更新平均、標(biāo)準(zhǔn)偏差、讀數(shù)數(shù)目
內(nèi)存可存儲(chǔ)100組、10,000 個(gè)讀數(shù)
內(nèi)置時(shí)鐘可更新存儲(chǔ)數(shù)據(jù),并給每個(gè)數(shù)據(jù)附上測(cè)量時(shí)間。
USB, IR 和系列輸出選項(xiàng),可用于與打印機(jī)和電腦簡(jiǎn)單連接。
背光顯示,可在黑暗環(huán)境中使用。
密耳和微米之間轉(zhuǎn)換
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