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膜厚測(cè)試儀 膜厚測(cè)試儀價(jià)格

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更新時(shí)間:2015-10-28 16:40:00瀏覽次數(shù):577次

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膜厚測(cè)試儀,分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。 采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

原理
采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。
磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

X射線衍射裝置
 簡(jiǎn)單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
 
  具體地說,比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。
主要特點(diǎn)
★ 自動(dòng)對(duì)焦功能 。配備激光自動(dòng)對(duì)焦功能,能夠準(zhǔn)確對(duì)焦,提高測(cè)量效率。
 
  ★ 具有焦點(diǎn)距離切換功能,適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測(cè)量
 
  ★ 采用檢量線法和FP法,兩個(gè)準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換,采用激光自動(dòng)對(duì)焦,并配備有Z軸防沖撞傳感器,可防
 
  止在對(duì)焦時(shí)造成的損壞。
 
  ★ 選用Mo靶材X射線管,測(cè)量貴金屬更靈敏。
 
  ★ 支持多種語言的軟件系統(tǒng)。簡(jiǎn)體中文、繁體中文、英語、日語、韓語
 
  ★ 搭載樣品尺寸的兼容性
 
  可適用于各種樣品,能夠通過一臺(tái)儀器測(cè)量,從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品,從較厚
 
  的樣品(機(jī)械零部件)之大型線路板(PCB)及電子元器件等
 
  ★ 鹵素?zé)粽彰?div id="ehim72kffn" class="spctrl"> 
  ★ 即時(shí)生成測(cè)量報(bào)告的便捷性 。運(yùn)用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡(jiǎn)單輕松得到制作報(bào)告
 
  ★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
 
  ★ 搭載了電動(dòng)X-Y移動(dòng)平臺(tái)
 
  進(jìn)口日本精工(SFT9200)X-RAY熒光無損金屬薄膜電鍍層厚度測(cè)量?jī)x
 
  SFT9200是精工膜厚儀系列中普及型
 
  用途:檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器,保證鍍層厚度品質(zhì),減少電鍍成本浪費(fèi)
 
  「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業(yè)績(jī)的「SFT系列」(操作性與可靠性共存)的優(yōu)點(diǎn),并不斷地發(fā)展,成為可對(duì)應(yīng)較廣應(yīng)用范圍的X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x[新標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型]。
 
  產(chǎn)品副名稱:應(yīng)用范圍較廣的標(biāo)準(zhǔn)型鍍層厚度測(cè)量?jī)x
 
  產(chǎn)品型號(hào):SFT9200、SFT9250、SFT9255
 
  技術(shù)參數(shù):
 
  儀器的特長(zhǎng):廣泛應(yīng)用型
 
  可測(cè)元素:Ti~U
 
  X射線管:小型空氣冷卻型高功率X射線管球(W靶)管電壓:45kV 管電流:1mA Be窗
 
  濾波器:
 
  一次濾波器:A1-自動(dòng)切換
 
  二次濾波器:Co-自動(dòng)切換
 
  檢測(cè)器:比例計(jì)數(shù)管
 
  樣品觀察:CCD攝像機(jī)
 
  對(duì)焦方式:激光自動(dòng)對(duì)焦
 
  測(cè)定軟件:薄膜FP法、檢量線法
 
  5個(gè)準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換
 
  型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)
 
  型(0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm)
 
  安全機(jī)能:測(cè)量室門自鎖功能
 
  Z軸防沖撞功能
 
  儀器自診斷功能
 
  儀器介紹:
 
  SFT系列中標(biāo)準(zhǔn)型儀器
 
  濾波器
 
  另有SFT9250、SFT9255兩種機(jī)型
 
  標(biāo)準(zhǔn)配備有Windows2000中文操作界面
 
  采用檢量線法和FP法,測(cè)量數(shù)據(jù)與Word和Excel鏈接
 
  自動(dòng)生成報(bào)告和數(shù)據(jù)處理
 
  5個(gè)準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換
 
  工作臺(tái)3維電動(dòng),可編程進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量
 
  采用激光自動(dòng)對(duì)焦,并配備有Z軸防沖撞傳感器
 
  可防止在對(duì)焦時(shí)造成儀器的損壞。
 
  產(chǎn)品特點(diǎn):
 
  能夠測(cè)量無鉛焊錫
 
  配備了薄膜FP法,可以同時(shí)測(cè)量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,無鉛焊錫的鍍層后與成份
 
  搭載中心搜索軟件
 
  通過掃描樣品可以自動(dòng)檢測(cè)出線及基板點(diǎn)面部分的測(cè)量中心位置。
 
  擁有防沖功能
 
  搭載激光對(duì)焦系統(tǒng)
 
  搭載測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成軟件
 
  擁有自動(dòng)測(cè)量軟件以及中心搜索軟件
 
  搭載了薄膜FP法軟件
 
  X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長(zhǎng)為0.000001 m (1μm)左右,X射線比其短為0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 ?)左右。
 
  對(duì)某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時(shí),可以觀測(cè)到主要以下3種X射線。
 
 ?。?) 螢光X射線
 
  (2) 散亂X射線
 
 ?。?) 透過X射線
 
  SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。
 
  簡(jiǎn)單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
 
  具體地說,比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。

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