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CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀-膜厚計(jì)

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產(chǎn)品型號(hào)X-ray

品       牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地深圳市

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更新時(shí)間:2016-07-05 15:19:10瀏覽次數(shù):582次

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CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀電渦流測(cè)量原理
  高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基越近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀測(cè)量原理
  采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,磁感應(yīng)膜厚儀
來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀使用須知

1.在使用膜厚計(jì)前,請(qǐng)閱讀操作安全須知及使用手冊(cè)

2.請(qǐng)勿將膜厚計(jì)靠近任何產(chǎn)生強(qiáng)力磁場(chǎng)或者靜電場(chǎng)的裝置,此舉可能會(huì)導(dǎo)致膜厚計(jì)故障。

3.請(qǐng)勿暴露于腐蝕性或者可燃性氣體下使用膜厚計(jì)。此舉可能會(huì)破壞沒偶后繼或者產(chǎn)生爆炸。

4.請(qǐng)勿在直接收到日光照射或者結(jié)露的環(huán)境下使用膜厚計(jì),此舉可能會(huì)導(dǎo)致膜厚計(jì)發(fā)生變形或者絕緣層杯破壞,或者導(dǎo)致膜厚計(jì)特性超出規(guī)格。

5.一點(diǎn)校正:必須在每次量測(cè)時(shí)實(shí)行此動(dòng)作

6.兩點(diǎn)校正:建議在常用測(cè)試點(diǎn)實(shí)行此動(dòng)作以增加量測(cè)的準(zhǔn)確性。

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀操作說明

開機(jī)與關(guān)機(jī)

1.確保膜厚計(jì)感應(yīng)器前端遠(yuǎn)離任何的底材或者磁場(chǎng)

2.壓下扳手直至畫面有顯示后放開扳手,等待畫面顯示“um”或“mils”及HOLD后才可量測(cè)。

3.自動(dòng)電源關(guān)閉功能(APO):15秒沒有任何操作膜厚計(jì)動(dòng)作的話,膜厚計(jì)電源將會(huì)自動(dòng)關(guān)閉以延長(zhǎng)電池壽命。

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀

  膜厚儀又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀,分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

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