CLJ-E型華宇半導(dǎo)體激光塵埃粒子計數(shù)器
CLJ-E型激光塵埃粒子計數(shù)器是用來檢測凈化環(huán)境中單位體積內(nèi)所含塵埃顆粒數(shù)的計數(shù)儀器。本儀器空氣采樣量為 2.83 L/min （即0.1立方英尺/min），滿足國家計量總局頒布的 JJF1190-2008檢定規(guī)程的要求，能直接檢測1000000級、300000級、100000級、10000級、1000級、100級的潔凈環(huán)境。
CLJ-E型華宇半導(dǎo)體激光塵埃粒子計數(shù)器功能介紹：
CLJ-E型激光塵埃粒子計數(shù)器一次采樣可同時測得六種粒徑檔的塵埃顆粒數(shù)，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數(shù)目及變化情況，也可打印其檢測結(jié)果，對研究、檢測和評價各種潔凈環(huán)境十分方便。因此，本儀器可廣泛應(yīng)用于微電子、醫(yī)療制藥、生化制品、血液制品、食品衛(wèi)生、化妝用品、精密機(jī)械、精細(xì)化工和航天航空等部門。該儀器還可以選配溫度與濕度的測量功能，能在測塵埃的間隙，測量環(huán)境溫濕度并能打印結(jié)果。
CLJ-E型華宇半導(dǎo)體激光塵埃粒子計數(shù)器主要特點：
（1）粒徑分擋 0.3μm；0.5μm；1μm；3μm；5μm；10μm六檔；
（2）采樣時間：1～10分鐘；
（3）采樣點數(shù)：2～7點設(shè)定；
（4）每點采樣次數(shù)：2～9次設(shè)定；
（5）六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示；
（6）顯示或打印可將2.83升/分內(nèi)所含顆粒轉(zhuǎn)換成1m3所含顆粒數(shù)；
（7）顯示或打印當(dāng)前溫度和濕度的數(shù)值。
CLJ-E型華宇半導(dǎo)體激光塵埃粒子計數(shù)器技術(shù)參數(shù)：
1.光源:全半導(dǎo)體激光光源，進(jìn)口二極管激光器
2.采樣量:2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍:100級～30萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道:0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內(nèi)所含顆粒轉(zhuǎn)換成1m3所含顆粒數(shù)。
7.采樣周期:1～10 (min)
8.自凈時間:≤15 (min)
9.校準(zhǔn)：可追溯美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)協(xié)會（NIST），我公司已通過國家計量建標(biāo)考核，可追溯至上海計量測量技術(shù)研究院可自行進(jìn)行校準(zhǔn)或第三方國家計量機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)
10.工作環(huán)境:溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH
11.樶大功耗:25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1）溫度：0～50℃±1℃
（2）濕度：0～99%RH±5%
13.采樣點數(shù)：2～7點設(shè)定
14.每點采樣次數(shù)：2～9次設(shè)定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標(biāo)準(zhǔn)
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸:260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注:內(nèi)置打印機(jī)、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架
主營產(chǎn)品：愛華聲級計、噪聲統(tǒng)計分析儀、聲學(xué)振動測試分析儀、鐵損測量儀、高斯計、磁通計，激光對中儀，金相磨拋機(jī)等全系列金相試驗設(shè)備，無損檢測設(shè)備（硬度計、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、粗糙度儀），漆包線檢測設(shè)備、激光測徑儀、鹽霧試驗箱、高低溫試驗箱、工業(yè)內(nèi)窺鏡、塵埃粒子計數(shù)器等。
