一、鈑金鍍層測(cè)厚儀介紹

鈑金鍍層測(cè)厚儀指用X射線方法測(cè)量電鍍層厚度的儀器，也用于鍍層成分分析。?

鈑金鍍層測(cè)厚儀儀器優(yōu)點(diǎn)：

1、快速檢測(cè)，檢測(cè)一個(gè)點(diǎn)的厚度僅需要幾秒到幾十秒

2、無損，無需要破壞樣品，直接經(jīng)過X射線照射，就可得出鍍層厚度數(shù)據(jù)

3、便捷，對(duì)樣品沒有特殊要求，基本無需對(duì)樣品進(jìn)行處理

二、鈑金鍍層測(cè)厚儀Thick800A介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司   研發(fā)生產(chǎn)的鍍層測(cè)厚儀Thick 800A

X射線鍍層測(cè)厚儀Thick800A是天瑞儀器在Thick 680的基礎(chǔ)上研發(fā)生產(chǎn)的新一代鍍層測(cè)厚儀。新儀器在硬件、軟件上都有很大的改進(jìn)，運(yùn)用新型的上照式設(shè)計(jì)，配備先進(jìn)的Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器，軟件上加入了無標(biāo)樣FP法的，使儀器在鍍層行業(yè)的運(yùn)用上更廣泛了。而且天瑞儀器更是從美國采購了全套的電鍍鍍層標(biāo)樣，能夠滿足電鍍和表面處理廠家?guī)缀跛械腻儗雍穸鹊臏y(cè)量。同時(shí)儀器還可以分析電鍍液及鍍層成分的分析。

鈑金鍍層測(cè)厚儀Thick 800A技術(shù)參數(shù)：

1、鍍層分析元素：從硫（S）~鈾（U）；

?2、多可以分析五層金屬鍍層厚度（4種鍍層+底層基材），一次可同時(shí)分析多達(dá)24個(gè)元素；?

3、分析鍍層厚度從0.01~50um（金屬鍍層不同，分析厚度會(huì)有差別）；

4、移動(dòng)樣品平臺(tái)100mm×100mm；

5、儀器尺寸：576（W）×495（D）×545（H）mm??；

6、重量：90KG

7、電源：交流220V±5V，建議配置1000W交流穩(wěn)壓電源。

X射線鍍層測(cè)厚儀小知識(shí)

1、X射線鍍層測(cè)厚儀能測(cè)塑料或陶瓷上的鍍層嗎？

 鍍層基體是塑料或是陶瓷上的金屬鍍層，都是可以測(cè)的，這一塊我公司儀器已經(jīng)在PCB、汽車等行業(yè)里得到實(shí)際的應(yīng)用。

 2、X射線鍍層測(cè)厚儀測(cè)試的元素范圍？

 只要能形成固體元素都是可以，我們的儀器不僅有發(fā)射算法，還可以用吸收法，前提要看元素組合，找到相對(duì)應(yīng)的方法和標(biāo)樣，Thick800A能測(cè)的鍍層種各組合已有400多種，基本涵蓋了大多數(shù)的電鍍種類。

 3、X射線鍍層測(cè)厚儀的基本原理是什么？

 特征X射線，其由被檢測(cè)物質(zhì)的基本組成元素決定，元素不同特征X射線不周，鍍層厚度不同，特征X射線的能量不同。

 4、輕元素比如鋁、硅等元素周期表中靠前的元素為什么不好測(cè)？

 輕元素被激發(fā)后，極易被空氣給吸收，探測(cè)器很難探測(cè)到輕元素激發(fā)出的特征X射線光子，或是的探測(cè)到的特征X射線光子量太少，所以含量不好檢測(cè)。

5、X射線儀器，為什么有X光管上照式和下照式的區(qū)別，各有什么特點(diǎn)？

 下照式光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn)：可以分析純液態(tài)樣品，樣品下表面為檢測(cè)面，對(duì)樣品的形狀沒有太多的要求，同時(shí)分析液態(tài)樣品時(shí)，樣品受熱產(chǎn)生的氣泡對(duì)分析無影響。

 缺點(diǎn)：分析粉末樣品時(shí)，如果樣品破損，容易損害X光管，污染檢測(cè)室，Be窗上受到污染不容易清理，不利于儀器維護(hù)。

上照式的優(yōu)缺點(diǎn)：

測(cè)鍍層樣品時(shí)，高精度的定位系統(tǒng)，對(duì)檢測(cè)圓柱型產(chǎn)品標(biāo)樣，弧形產(chǎn)品精度更高，同時(shí)可以保護(hù)X光管，有利于儀器的維護(hù)。