簡要介紹: 1790是采用當前國際**的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,其0.05%/0.1%的基本精度、 20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100 MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求, 特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40A直流偏置的高功率測試條件及列表 掃描功能將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響, 將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。 1790是電子元件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計和開發(fā)以及材料( 電子材料和非電子材料)的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。 計算機通訊及測試過程記錄提供了條件。 1790以其**的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標準和標準如IEC和MIL標準的各種測試。 廣泛的測量對象: 無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。 半導(dǎo)體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。 其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。 介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。 磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估。 半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。 液晶材料:液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。 多種元件、材料特性測量能力 揭示電感器件的多種特性 1790**的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以**地分析磁性材料、電感器件的性能。 使用JK10301選件的100mA DC的偏置電流可以**測量高頻電感器件、通訊變壓器,濾波器的小電流疊加性能。使用TH1775電流疊加裝置, 可使偏置電流達40A以**分析高功率、大電流電感器件。 **的陶瓷電容測量 1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征,同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。 儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度,六位分辨率和自動電平控制(ALC)功能等,中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。 液晶單元的電容特性測量 電容-電壓(C-Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法,常規(guī)儀器測量液晶單元的C-Vac特性遇到一個問題是*大測試電壓不夠。 使用JK10301選件可提供分辨率為1%及*高達20Vms的可編程測試信號電平,使它能在*佳條件下進行液晶材料的電容特性測量。 半導(dǎo)體材料和元件的測量 進行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價時,需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù),這些可從C-Vdc特性的測量結(jié)果推導(dǎo)出來。 20HZ-1 MHz的測量頻寬及高達40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。 為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件,需要延伸電纜和探頭,儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至*小。 各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內(nèi)容。 適應(yīng)多種領(lǐng)域的測試需要 新材料、新元件的研究開發(fā) 1790具有的0.05%/0.1%基本準確度極大提高了測量的可信度。儀器提供的六位分辨率可以檢測元件參數(shù)的細微變化,
尤其對損耗器件的測試具有良好的性能。 提高生產(chǎn)效率 1790 30次/秒的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要,從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。 內(nèi)建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。 內(nèi)建存儲器及USB外存裝置可大大減小操作時間并降低聽任錯誤。 應(yīng)用廣泛的品質(zhì)檢驗手段 儀器具備的20Hz-1MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。 JK10301 及 JK1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。 提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。 用戶友好的操作界面 簡化的前面板操作 儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結(jié)果,各種設(shè)定狀態(tài)一目了然,交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。 非易失性存儲器以保存多種儀器設(shè)置 1790提供有內(nèi)部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設(shè)置,JK3302還具有外部USB存儲卡進行數(shù)據(jù)保存及多臺儀器統(tǒng)一進行數(shù)據(jù)設(shè)置/調(diào)用。 這將減小參數(shù)的設(shè)置錯誤并提高用戶使用效率。 靈活的數(shù)據(jù)通訊方式 1790提供有GPIB并行通訊接口,為多機通訊并組成自動測試系統(tǒng)提供了可能,同時, 儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計算機進行遠程通訊。 比較器功能 | 比較器 | 測量的參數(shù)值可以分選為10檔 測量得出的副參數(shù)也可以比較輸出IN/OUT信號 | 計數(shù)值 | 0 — 999999 | 列表掃描比較 | 掃描列表中的每個點都可以輸出HIGH/IN/LOW信號 | 輸入保護 | 當充電的電容連上測試端時,內(nèi)部保護電路工作。 *大可以保護的電容電壓可以由下式推出: where: Vmax ≤200V C is in Farads | 其他功能 | 存儲功能 | 外部非易失存儲器可以保存20個儀器的設(shè)置文件 額外的設(shè)置文件可以保存在U盤中 | GPIB, RS232C | 所有的儀器控制參數(shù),測量值,比較值和掃描列表都可以通過GPIB(TH2828A選件),RS232C實現(xiàn)多機通訊或?qū)C通訊。 | 選件 | JK10301 | 功率放大/直流偏置 增加交流信號到 20Vrms / 0.2Arms. 擴展直流偏置范圍到 ±40V DC. | JK10401 | 2m / 4m 測試線選件 擴展測試線的長度,增加2m或4m。 | JK10202 | Handler 接口 輸入的9對上下限值可以分選10檔的L、C或|Z|值。 Handler提供與自動分選機相連的接口。所有的信號都是單獨的。 | 準確度(細節(jié)請查看操作手冊) | 測試環(huán)境 | 熱機時間 | ≥30 分鐘 | 環(huán)境溫度 | 23±5oC | 測試信號電平 | 0.3Vrms – 1Vrms | 清零 | 開路 和 短路 | 測試線長度 | 0 m | |Z|, |Y|, L, C, R, X, G, B | ±[A+(Ka+Kb+Kc)×100] (% of reading) 1. A 是圖1和2中的基本準確度因子 2. Ka and Kb 是阻抗比例因子 Ka 用于阻抗低于 500Ω Kb 用于阻抗高于 500Ω. 3. Kc 是差值校準值. 直接修正頻率時 Kc=0 其他頻率時 Kc=0.0003 4. C, L, B 測量時 D ≤ 0.1 R, G 測量時 Q ≤ 0.1 | D | ±[Ae/100] (D的優(yōu)良值) 當 A=[A+(Ka+Kb+Kc)×100] | Q (When Qx×De<0.1) | 當, Qx 符合 Qvalue時 De 是 D 的**度 | θ | DEG | ±[Ae/100] (degress 優(yōu)良值) | RAD | ±[(180/π)×(Ae/100)] (degress 優(yōu)良值) | 工作溫度, 濕度 | 0℃ — 40℃, ≤90% RH | 電源要求 | 198 V — 242 V AC,99 V-121 V AC 47.5 Hz — 63 Hz | 功耗 | ≤100 VA | 尺寸(W×H×D) | 430 mm×185 mm×473 mm | 重量 | 15 kg Approx | |