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更新時間:2023-10-27 11:58:06瀏覽次數(shù):117次
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SCE(IR)-MC-C5模塊化光學(xué)傳感器配合紅外線燈光進(jìn)行工作,適用于非接觸式厚度測量,即便材料的一面不透明。 該傳感器專門針對在一個19"插件中使用最多至 5 個通道的工業(yè)內(nèi)聯(lián)應(yīng)用而設(shè)計。 不同的型號確保針對大量的應(yīng)用提供解決方案。 針對所有加工階段中的晶片可以在 10 µm - 1000 µm 的厚度范圍內(nèi)進(jìn)行精確的離線和在線測量。
SCE(IR)-MC-C5模塊化光學(xué)傳感器特點:
較大的層厚度測量范圍;
拋光的和粗糙的表面;
透明的和不透明的材料;
從單面進(jìn)行測量;
在線和離線;
較高的橫向分辨率;
距離測量(可選);
簡單集成;
無損傷測量;
堅固耐用;
自動光量控制;
較大的測量間距公差范圍;
SCE(IR)-MC-C5模塊化光學(xué)傳感器應(yīng)用領(lǐng)域:
SCE系列傳感器利用多種*的技術(shù)來實現(xiàn)快速距離和厚度測量。 傳感器采用的光譜共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以對幾乎任何表面做測量,另外不同種類的白光和紅外光源方便了傳感器測量多種材料。在光伏設(shè)備、玻璃行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)、醫(yī)學(xué)、塑料盒坐標(biāo)測量技術(shù)上得到了的廣泛的應(yīng)用和認(rèn)可。
SCE(IR)-MC-C5模塊化光學(xué)傳感器技術(shù)規(guī)格:
SCE(IR)-MC-C5模塊化光學(xué)傳感器測量原理:
白光光源①發(fā)出白光,經(jīng)過光纖分路器③進(jìn)入光纖傳導(dǎo),再通過針孔④白光到達(dá)色散物鏡⑤,在被測物一側(cè)產(chǎn)生色散,由于波長不同,只有焦點在被測表面上的光才能被反射透過針孔④, 進(jìn)入針孔④后方的光譜分析儀②。焦點在被測表面上的光波長在光譜分析儀中體現(xiàn)為峰值,由光譜儀的光譜分布可以判斷被測物體的高度。
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