軍永設(shè)備高低溫濕熱振動沖擊鹽霧跌落環(huán)境試驗

1、低溫試驗

駿用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4 部分：低溫試驗 GJB 150.4A-2009

只做：溫度≥ -70℃

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

只做：溫度≥ -70℃

君用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB 3947A-2009

只做：溫度≥ -70℃

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫試驗 GJB 4.3-1983

只做：溫度≥ -70℃

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗 GJB 4.4-1983

只做：溫度≥ -70℃

2、高溫試驗

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3 部分：高溫試驗 GJB 150.3A-2009

只做： 溫度≤300℃

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

只做： 溫度≤300℃

君用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

只做： 溫度≤300℃

君用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB 3947A-2009

只做： 溫度≤300℃

微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005

只做： 溫度≤300℃

電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009

只做： 溫度≤300℃

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗 GJB 4.2-1983

只做： 溫度≤300℃

3、交變濕熱試驗

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9 部分：濕熱試驗 GJB 150.9A-2009

只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）

君用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH

電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009 
只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH

4、恒定濕熱試驗

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 恒定濕熱試驗 GJB4.5-1983

只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH

5、振動試驗

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第16 部分：振動試驗 GJB 150.16A-2009

只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 振動試驗 GJB 4.7-1983

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

6、溫度變化試驗 

君用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法 GJB 1032-1990

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第18 部分：沖擊試驗 GJB 150.18A-2009

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

君用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

7、跌落試驗

君用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB 3947A-2009

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第18 部分：沖擊試驗 GJB 150.18A-2009

8、機械沖擊試驗

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

君用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

君用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB 3947A-2009

微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005

電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 沖擊試驗 GJB 4.9-1983

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 顛震試驗 GJB 4.8-1983

9、碰撞試驗/顛震試驗

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

10、砂塵試驗

電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第12 部分：砂塵試驗 GJB 150.12A-2009

只做：方法La2:恒定氣壓

11、鹽霧腐蝕試驗

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第11 部分：鹽霧試驗 GJB150.11A-2009

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

君用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

君用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB 3947A-2009

微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005

電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 鹽霧試驗 GJB 4.11-1983

12、溫度沖擊試驗

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5 部分：溫度沖擊試驗 GJB 150.-2009

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009

君用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

君用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第8 部分：淋雨試驗 GJB 150.8A-2009

君用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

君用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB 3947A-2009

13、外殼防護等級試驗

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 外殼防水試驗 GJB 4.13-1983

14、可靠性試驗

君用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB367A－2001

可靠性鑒定和驗收試驗 GJB899A-2009