一、高低溫試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫、濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗。

二、高低溫試驗箱型號規(guī)格:
1.型號:UK-80T
型號 LK-80T   內(nèi)形尺寸:W×H×D 400×500×400     外形尺寸：650×1500×950
型號 LK-150T  內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×600×500     外形尺寸：750×1600×1050
型號 LK-225T  內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×750×600     外形尺寸：980×1700×1040
型號 LK-408T  內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×850×800     外形尺寸：1080×1800×1240
型號 LK-800T  內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×800   外形尺寸：1480×1950×1240
型號 LK-1000T 內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000  外形尺寸：1480×1950×1440
三、高低溫試驗箱符合標準：
高低溫試驗箱性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）

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