功率分析儀(寬頻型) 型號:TC-PF4000
功率分析儀(寬頻型)
產(chǎn)品簡介: | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
TC-PF4000功率分析儀可解決10Hz~500kHz電信號的精確測量,采用DSP高速采樣、低失真寬帶取樣、信號實時分析、PLL鎖相環(huán)同步,線性濾波,過零濾波等*技術,保證各種非周期波及高頻信號的精確測量,大屏幕液晶顯示所有測試數(shù)據(jù)與波形,無需電腦即可獨立工作。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
技術特性: 輸 入
精 度
注:f為頻率,單位kHz 顯 示 功 能 顯 示 類 型: 6.4’TFT液晶顯示器 通訊功能 典型測試報告
波形顯示設置 積分功能
積分功能 評價功能
普通測量功能 通訊設置
外接互感器變比設置 |
![]() | 產(chǎn)品名稱:雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 產(chǎn)品型號:KDB-3 |
雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 型號:KDB-3
KDB-3雙組合測試儀是根據(jù)標準SEMI MF1529設計,雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中,在測試樣品的每個測量位置上,以兩種不同的方式(配置)將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置"或“配置切換"測量。單組合四探針相比,用較小間距的探針頭就可以進行高精度的測量,從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。
儀器特點如下:
1、配有雙數(shù)字表:一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時,另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全過程中的電流變化,使操作更簡便,測量更精確。
數(shù)字電壓表量程:0—199.99mV 靈敏度:10μV 輸入阻抗:1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍:10—4 —1.9×104Ω·cm。
可測方塊電阻范圍:10—3 —1.9×105Ω/□。
3、設有電壓表自動復零功能,當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時,電壓表指零,只有1、4探針接觸到硅片,測量電流渡過單晶時,電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值;同樣,當四探針頭1、3探針間未有測量電流流過時,電壓表指零,只有1、3探針接觸到硅片,測量電流渡過單晶時,電壓表才指示2、4探針間的電壓(即電阻率)值,避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定(萬分之五精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響,整機測量精度<3%。
電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器(>10萬次),在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù),提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、可選配軟件進行數(shù)據(jù)采集,可進行雙組合或單組合測量,實現(xiàn)自動切換電壓檔位、讀取相應電壓值,根據(jù)不同方法計算電阻率或方塊電阻值;軟件可對測量數(shù)據(jù)進行分析,如平均值,zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內(nèi)容。
7、可配KDDJ-3電動測試架,自動上下運行,使測量更方便快捷。
8、四探針頭采用上*的紅寶石軸套導向結構,使探針的游移率減小,測量重復性提高
凝點測定儀/傾點、凝點檢測儀 型號:TD-QN1002
標準:GB/TS70-83 GB/T3535-83
依據(jù)國標設計生產(chǎn)的全自動傾點/凝點測定儀,適合電力、石油、鐵路、航空、科研部門使用,結果可靠,性能穩(wěn)定,系用復疊式壓縮機制冷方式,可同時測試兩個試樣,自動檢測 ,打印存儲數(shù)據(jù),自動和手動方式融為一機。
技術參數(shù):
■ 制冷深度:室溫~-70℃
■ 壓縮機功率:300W×2
■ 測溫器件:Pt100
■ 控溫精度:±0.5℃
■ 測試元件:PT100
■ 加熱功率:400W
■ 冷浴容量:3.2L
■ 降溫時間:室溫~-70℃≤120min