高精度轉(zhuǎn)速表 型號(hào):TC-HG-1803
zui齊全的轉(zhuǎn)速測(cè)量功能;*的多周期平均等時(shí)測(cè)周法設(shè)計(jì),保證全量程范圍內(nèi)同等精度;嚴(yán)格按規(guī)范設(shè)計(jì),五位有效數(shù)字浮點(diǎn)顯示;數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)、回放;超大液晶屏幕讀數(shù),功能菜單顯示;超低功耗設(shè)計(jì);可連接三角架,便于長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)精確監(jiān)測(cè),配備信號(hào)輸出端口,滿足特定工作要求;電池電量實(shí)時(shí)顯示,匱電自動(dòng)報(bào)警;人性化造型設(shè)計(jì),美觀小巧,操作簡(jiǎn)便,重量輕;產(chǎn)品系列化,多種型號(hào)可滿足您不同的測(cè)量環(huán)境。該產(chǎn)品已批量出口
產(chǎn)品名稱:圖像冠層分析儀 植物冠層分析儀 產(chǎn)品型號(hào):TG-SL02 |
圖像冠層分析儀 植物冠層分析儀型號(hào): TG-SL02
功能介紹:
一、TG-SL02 圖像冠層分析儀:功能
廣泛于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測(cè)量和分析。能測(cè)算植物冠層的太陽(yáng)直射光透過(guò)率、天空散射光透過(guò)率、冠層的消光系數(shù),葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。
二、TG-SL02 圖像冠層分析儀:原理和圖像冠層分析儀:方法
TG-SL02 圖像冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律,在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過(guò)冠層孔隙率的測(cè)定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法。
三、TG-SL02 圖像冠層分析儀:特點(diǎn)
1.非破壞性地測(cè)定冠層結(jié)構(gòu)
2.可以測(cè)量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)
3.手持式萬(wàn)向接頭自動(dòng)水平調(diào)整探頭,
4.隨身攜帶的筆記本計(jì)算機(jī)可以幫助你正確選點(diǎn)取樣,即時(shí)決定圖像的取舍
5.由計(jì)算機(jī)電池提供電源極其輕便、便于觀測(cè),尤其適合完成野外繁重的觀測(cè)任務(wù)
6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū),方位角可分10區(qū))。對(duì)不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí),可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問(wèn)題等)。對(duì)不同天頂角起始角和終止角的選擇,可以避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件
7.通過(guò)USB接口直接將測(cè)點(diǎn)圖像顯示在計(jì)算機(jī)上,可以在野外即時(shí)觀察圖像,選擇合理的測(cè)點(diǎn),將圖像存貯。
8.半球圖象上可以設(shè)計(jì)任何地點(diǎn)、任何時(shí)間的太陽(yáng)視運(yùn)動(dòng)軌跡,以及冠層內(nèi)任意時(shí)刻的受光狀況。
四、圖像冠層分析儀:技術(shù)參數(shù)
1.鏡頭角度:150°
2.分辨率:768×494pix
3.測(cè)量范圍:天頂角由0°~75°(150°魚眼鏡頭)可分割成十個(gè)區(qū)域,方位角360°亦可分割成十個(gè)區(qū)域。
4.PAR感應(yīng)范圍:感應(yīng)光譜400~700nm。 測(cè)量范圍0~2700μmol/m2•s
5.分析軟件:專業(yè)AWOS-SL02軟件。
6.顯示和內(nèi)存:7英寸華碩筆記本。
7.電 池:電腦電池。
8.傳輸接口:USB
9.工作溫度:0~55℃
■ 測(cè)量范圍:轉(zhuǎn)速 1~99999r/min 頻率0.0167~1666.6Hz 特點(diǎn): 激光光源光電(非接觸)型,可測(cè)量轉(zhuǎn)速、頻率、周期zui大zui小、zui科值及計(jì)數(shù)共10種參數(shù) |
高精度轉(zhuǎn)速表/轉(zhuǎn)速表
普通磨料堆積密度測(cè)定儀型號(hào):JB/T7984.2-1999
一、產(chǎn)品概述:
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO9136:1989《粗磨粒 堆積密度的測(cè)定》和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T7984.2-1999《普通磨料 粗磨粒堆積密度的測(cè)定》的相關(guān)技術(shù)要求研制生產(chǎn)的檢測(cè)儀器,于檢測(cè)制造固結(jié)磨具和涂附磨具的粗顆粒普通磨料的堆積密度,也于檢測(cè)其它顆粒狀材料的堆積密度。其檢測(cè)方法與結(jié)果和上通用的檢測(cè)方法具有*的通用性。
二、工作原理
將待測(cè)的磨料裝入漏斗,打開排放閥,磨料順著漏斗的下端口自然下落并流入到測(cè)量筒中,將落入到測(cè)量筒中的磨料刮平,在天平上稱取刮平后測(cè)量筒中的磨料質(zhì)量,再除以測(cè)量筒的容積,就可以測(cè)出待測(cè)磨料的堆積密度。
三、技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)量誤差:≤±0.02g/cm3。
2、測(cè)量筒容積:200±0.5cm3
3、外形尺寸:230mm(長(zhǎng))×250mm(寬)×425mm(高)