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手動白光干涉儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號SIS 1200

品       牌

廠商性質生產商

所  在  地南京市

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更新時間：2018-05-15 14:34:53瀏覽次數(shù)：479次

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中國儀器超市白光干涉儀SIS系列采用增加相位掃描干涉技術，是專為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度和其他表面參數(shù)而設計的微納米測量系統(tǒng),，為韓國SAMSUNG*供應商，LPL友好俱樂部成員，清華大學，中國臺灣大學，首爾大學友好合作伙伴。

 

基本信息
品牌： SNU 型號： SIS 1200 操作方式： 手動
功能： 檢測、觀察、分析 精度 ： 1nm
其它型號：
SIS 2000  
  電子型錄（宣傳冊）下載    標準報價單下載
產品介紹
    白光干涉儀SIS系列采用增加相位掃描干涉技術，是專為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度和其他表面參數(shù)而設計的微納米測量系統(tǒng),，為韓國SAMSUNG*供應商，LPL友好俱樂部成員，清華大學，中國臺灣大學，首爾大學友好合作伙伴。
產品特點
1、非接觸式測量：避免物件受損。
2、三維表面測量：表面高度測量范圍為1nm-200μm。
3、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。
4、納米級分辨率：垂直分辨率可以達到0.1nm。
5、高速數(shù)字信號處理器：實現(xiàn)測量僅需要幾秒鐘。
6、掃描儀：采用閉環(huán)控制系統(tǒng)。
7、工作臺：氣動裝置、抗震、抗壓。
8、測量軟件：基于windows 操作系統(tǒng)的用戶界面，強大而快速的運算。
 
技術參數(shù)
　
機型
SIS 1200
工作臺
尺寸
250 mm×174 mm
傾斜度
±3 °
測量行程
X:150mm     Y:100mm
Z軸行程
50mm
運動方式
手動
掃描速度
30μm/sec
垂直分辨率
0.1nm
CCD
黑白CCD， 640×480 像素
物鏡安裝架
手動導引五孔式
鏡頭選配
鏡頭：5×、10×、20×、50×
應用領域
1、TFT產業(yè)
2、半導體
3、MEMS
4、高校科研
5、精密加工
 
附件
水準測量器、旋轉臺、CCD、鏡頭、LED光源、掃描控制盒、PZT傳感器、光源控制器等
 

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