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DP-ST-102A型探針測(cè)試臺(tái) 、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量的中間測(cè)試。
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