涂鍍層測(cè)厚儀，測(cè)厚儀  型號(hào): DP-LYT-2008
、概述
本儀器采用磁性測(cè)厚方法，可無損傷檢測(cè)磁性金屬基鐵（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。本儀器廣泛地應(yīng)用于制業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)域。是材料保護(hù)業(yè)的儀器。
1）本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測(cè)量（磁性方法）
2）點(diǎn)
便攜，手掌大小
采用速的DSP芯片，具有快速的測(cè)量能力
人性化，簡(jiǎn)單操作。
兩種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉(zhuǎn)換
具有電源欠電壓提示
操作過程有蜂鳴聲提示
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
3)測(cè)量原理
磁性法
當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭與磁性金屬基體構(gòu)成閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過測(cè)量其變化量，可測(cè)得其覆層的厚度。
二、參數(shù)
●     測(cè)量范圍：0-1200um
●     工作電源：兩節(jié)五號(hào)電池
●     分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）
●     測(cè)量精度誤差：零點(diǎn)校準(zhǔn) ±（1.5+3%H）；二點(diǎn)校準(zhǔn)±【（1%～3%H）】H+1.5
●     公英制轉(zhuǎn)換：um/mil轉(zhuǎn)換
●     環(huán)境溫度:-10-40℃
●     相對(duì)濕度:≤85%
●     Z小基體:10*10mm
●     Z小曲率:凸5mm;凹5mm
●     Z薄基體：0.4mm
●     重量：99克（含電池）
●     尺寸：102mm*66mm*24mm