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低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀 型號:MCP-T370
四探針方案-觸式精度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認(rèn)自動測量功能，可自動保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片（另售），以確認(rèn)Roresuta AX測試值的準(zhǔn)確性。
測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲器。
規(guī)格 | |
測量方法 | 四端四探針法 |
測量范圍 | 10 -2?10 6 Ω |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 四探針探頭（ASP）AC適配器 說明書 檢查確認(rèn)書 |
選項 |
探頭選項 | ||
類型 | 適用被測試樣品 | 型號 |
ESP | 對于異類樣本 | MCP - TP08P |
PSP | 小樣本的薄膜 | MCP - TP06P |
QPP | 對于小樣本 | MCP - TPQPP |
TFP | 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
校準(zhǔn)塊 | 型號：MCP - TRF1 |
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