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控溫型顯微熔點(diǎn)測定儀（±1℃）/顯微熔點(diǎn)檢測儀/顯微熔點(diǎn)測試儀 型號(hào)：DP-XT4B
產(chǎn)品介紹： DP-XT4B（控溫型）系列化顯微熔點(diǎn)測定儀廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、化工、紡織、橡膠等方面的化驗(yàn)、檢驗(yàn)；等院?；瘜W(xué)系等對單晶或共晶等有機(jī)物質(zhì)的分析；工程材料和固體物理的研究；觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化的過程提供了有利的熔點(diǎn)測定裝置。 該儀器具有自動(dòng)控制溫度及無調(diào)節(jié)熱臺(tái)升溫速度的功能，通過LED顯示溫度測量值。儀表顯示準(zhǔn)確、清晰、穩(wěn)定性好；控溫范圍寬，可靠性好，抗震性強(qiáng)。是新代的熔點(diǎn)測定儀器。其顯微觀察部分采用雙目實(shí)體顯微鏡，視場大，工作距長，立體感強(qiáng)，長時(shí)間觀察，眼睛不易疲勞。觀察顯微鏡與熱臺(tái)控溫部分相互立，可分別使用。 控溫型顯微熔點(diǎn)測定儀主要參數(shù)： 主要配置：
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