漏電保護(hù)器測(cè)試儀 漏電保護(hù)器檢測(cè)儀 漏電保護(hù)儀 型號(hào)：DP-SDY-2

漏電保護(hù)器測(cè)試儀 漏電保護(hù)器檢測(cè)儀 漏電保護(hù)儀   型號(hào)：DP-SDY-2袖珍式 數(shù)顯漏電保護(hù)器檢測(cè)儀
用途：定量檢測(cè)各種漏電保護(hù)器動(dòng)作性能征：
◆檢測(cè)漏電保護(hù)器動(dòng)作電流和動(dòng)作時(shí)間　　　◆準(zhǔn)確測(cè)試突變量電流和動(dòng)作時(shí)間　　
◆次測(cè)試出100mA以下漏電保護(hù)器的動(dòng)作電流和動(dòng)作時(shí)間　　　
◆結(jié)構(gòu)精巧，單線接入，單鍵操作　　　
◆自動(dòng)檢測(cè)，數(shù)據(jù)保留，液晶顯示　　　
◆可在線或離線檢測(cè)　　　
◆善的保護(hù)、警示和故障自檢功能
漏電保護(hù)器測(cè)試儀 漏電保護(hù)器檢測(cè)儀 漏電保護(hù)儀   型號(hào)：DP-SDY-2參數(shù)：動(dòng)作電流分檔輸出范圍
脈沖檔 （ 1～100mA）　　　　　　　　　　　　　100mA檔（ 1～100mA）　　　　　　　　　　　　　200mA檔（ 1～200mA）　　　　　　　　　　　　　300mA檔（ 1～300mA）
動(dòng)作時(shí)間記錄范圍 0～1999mS
精度標(biāo)準(zhǔn) 電流1.5
時(shí)間2.5
機(jī)身尺寸 149×50×25（mm）

數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/數(shù)字式四探針檢測(cè)儀　型號(hào)：DP-SZT-2000

DP-SZT-2000型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研究成功的多用途的綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量棒狀、塊狀

半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻行測(cè)量，可以從10^-6--10⁵Ω—cm全量程范圍檢測(cè)硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測(cè)的必需儀器。

儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu)，分為電氣箱、測(cè)試架兩大部分，用戶可以根據(jù)測(cè)試需要安放在般工作臺(tái)或者用工作臺(tái)上，測(cè)試架由探頭及壓力傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、樣品架組成，耐磨和使用壽命長(zhǎng)的點(diǎn)。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào)，測(cè)試架設(shè)有手動(dòng)和電動(dòng)兩種裝置供用戶選購(gòu)。

儀器電氣箱主要由靈敏的直流數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的恒流源組成，測(cè)量結(jié)果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對(duì)儀器的電氣性能行校驗(yàn)。

儀器具有測(cè)量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、測(cè)量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點(diǎn)，儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究、等院校，對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試及工藝檢測(cè)。

儀器主要指標(biāo)：

1．  范圍：電阻率10^-4—10³Ω—cm，可擴(kuò)展至10⁵Ω—cm，分辯率為10^-6Ω—cm

         方塊電阻10^-3—10³Ω /□

         電阻10^-6—10⁵Ω

2．  可測(cè)半導(dǎo)體尺寸：直徑Φ15—150mm

3．  測(cè)量方式：軸向、斷面均可（手動(dòng)測(cè)試架）

4．  數(shù)字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測(cè)量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字）

              2 mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字）

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋10⁵Ω

              20mV檔以上>10⁸Ω

  (4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示，0—1999

具有性和過載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示

5．  恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   （3）電流誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字）

6．四探針測(cè)試探頭  （1）探頭間距：1mm   (2)探針機(jī)械游率：±0.3%

                   (3) 探針：Φ0.5mm    (4)壓力：可調(diào)

  7. 測(cè)試架：

  （1）手動(dòng)測(cè)試架：探頭上升及下降由手動(dòng)操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測(cè)試。

  （2）電動(dòng)測(cè)試架：探頭的上升和下降由電動(dòng)操作，設(shè)有自動(dòng)控制器控制，探頭上升時(shí)間1S—99S可調(diào)，探頭下降時(shí)間1S—99S可調(diào)，壓力恒定可調(diào)（由砝碼來設(shè)定）同時(shí)設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運(yùn)動(dòng)。

   8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W

9．    外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀　型號(hào)：DP-GL-1

本儀器主要用于測(cè)量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。

    為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展，別是計(jì)算機(jī)芯片、內(nèi)存的發(fā)展，越來越多的使用到了大直徑、純度、均勻度更的單晶硅材料。目前，在美、德等的工業(yè)家，均采用了二探針法，使用二探針檢測(cè)儀來測(cè)量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合美ASTM 《“F391-77"關(guān)于二探針測(cè)量硅單晶試驗(yàn)方法》的標(biāo)準(zhǔn)，是種新型的半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀，適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針法測(cè)量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率，從而步判斷半導(dǎo)體材料的性能，指導(dǎo)和監(jiān)視工藝操作，也可以用來測(cè)量金屬材料的電阻，儀器具有測(cè)量精度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、型美觀等點(diǎn)。也可以配四探針測(cè)試頭作常規(guī)的四探針法測(cè)量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測(cè)試臺(tái)、探頭三部分，儀表電氣控制箱由靈敏度直流數(shù)字電壓表、抗干擾隔離性能的電源變換裝置、穩(wěn)定精度恒流源和電氣控制部分組成。測(cè)量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示，零位穩(wěn)定、輸入阻抗，并設(shè)有自校功能。在棒狀材料使用二探針法測(cè)試時(shí)，具有系數(shù)修正功能，從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù)，可以直接讀出電阻率，使用方便。測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu)新穎，型美觀，可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品，并可以作逐點(diǎn)選擇步測(cè)量，也可以自由選擇固定位置測(cè)量，電活動(dòng)自如，具備鎖定裝置，方便重復(fù)測(cè)量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅，測(cè)試探頭能自動(dòng)升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測(cè)量精度、游移率小、耐磨、使用壽命長(zhǎng)點(diǎn)。同時(shí)探頭壓力恒定并且可調(diào)整，以適合不同的材料。

儀器主要指標(biāo)：

1.可測(cè)硅材料尺寸：

     直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。

     長(zhǎng)度：100~1100mm.

2.測(cè)量方式：軸向測(cè)量，每隔10mm測(cè)量點(diǎn)。

3.測(cè)量電阻率范圍：10^-3~10³Ω-cm,可擴(kuò)展到10⁵Ω-cm。

4.數(shù)字電壓表：

    （1）量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    （2）測(cè)量誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

    （3）輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>10⁶Ω

                  20mV檔及以上>10⁸Ω

    （4）顯    示：3^1/2位LED數(shù)字顯示，范圍0~1999。

5.恒流源：

    （1）電流輸出：直流電流0~100mA連續(xù)可調(diào)。

    （2）量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    （3）電流誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

6.二探針測(cè)試裝置：

    （1）探針間距：4.77mm

    （2）探針機(jī)械游移率：0.3%

    （3）探針壓力：0~2kg可調(diào)

    （4）測(cè)試探頭自動(dòng)升降

7.二探針測(cè)試臺(tái)

    （1）測(cè)試硅單長(zhǎng)度：100-1100mm

    （2）測(cè)試點(diǎn)間距：10mm

    （3）測(cè)試臺(tái)有慢、快二種移動(dòng)速度，快速移動(dòng)速度為1000mm/分（均勻

手動(dòng)）

8.電源：交流220V±10%，50HZ±2HZ，消耗功率<150W

電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀 型號(hào)：DP-DB-4

DP-DB-4電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀是根據(jù)家標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3—94研究成功的測(cè)量設(shè)備，主要用于測(cè)量電纜用橡膠和塑料半導(dǎo)電材料中間試樣電阻率以及各種導(dǎo)電橡塑產(chǎn)品電阻，若換上殊的四端子測(cè)試夾，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體材料及產(chǎn)品的低、中值電阻行測(cè)量

經(jīng)過了十多年的實(shí)際運(yùn)行，全近百家主要電纜廠和半導(dǎo)電屏蔽材料廠均已采用了該儀器，它是目前全*符合家標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3-94的測(cè)量半導(dǎo)電橡塑材料電阻率的儀器。

   儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu)，主要由電氣箱、測(cè)試架兩大部分組成，固定在用工作臺(tái)上，電氣箱包括靈敏的直流數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的直流恒流源，測(cè)量結(jié)果采用LED數(shù)字直接顯示，測(cè)量電流輸出也采用LED數(shù)字顯示，從0—100mA范圍內(nèi)可任意調(diào)節(jié)，可達(dá)到控制測(cè)試功率損耗的規(guī)定，儀器測(cè)試架由電、壓力探頭、樣品臺(tái)及電動(dòng)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)組成，操作按鍵電鈕，可行半自動(dòng)測(cè)量。

   儀器具有測(cè)量精度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點(diǎn)，全符合際和家標(biāo)準(zhǔn)的要求。

   儀器適用于電纜廠、導(dǎo)電橡塑材料廠、計(jì)算機(jī)廠、電子表廠、等院校、科學(xué)研究等，對(duì)于導(dǎo)電橡塑材料及產(chǎn)品的電阻性能測(cè)試、工藝檢測(cè)，是必需的測(cè)試設(shè)備。

   儀器主要指標(biāo)：                                                            

、 測(cè)量范圍：10^-4--10³Ω-cm可擴(kuò)展到10⁵Ω-cm；分辯率10^-6Ω-cm

二、 數(shù)字電壓表：

1．  量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測(cè)量誤差  0.2mA檔±(0.5%讀數(shù)+8字)；2mV—2V擋±(0.5%讀數(shù)+2字)

3．  顯示3 1/2 位數(shù)字顯示0—1999具有性和過載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示。

三、 恒流源：

1．  電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給，數(shù)字顯示

2．  量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

3．  電流誤差：±(0.5%讀數(shù)+2字)

四、 測(cè)量電：

1．  電流電：寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm，兩個(gè)電流電間的距離110mm

2．  電位電：寬度50mm，接觸半徑<>，兩個(gè)電位電間的距離20mm±2%

  五、電源：220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

六、外形尺寸（包括測(cè)試工作臺(tái)）1200×600×1050mm（長(zhǎng)×寬×)

半導(dǎo)電橡塑材料電阻溫測(cè)試架/電阻溫測(cè)試架 型號(hào)：DP-DB-4/DB-5

測(cè)試架是與本公司的DP-DB-4型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀的配套產(chǎn)品。DP-DB-4儀器是檢測(cè)半導(dǎo)電橡塑材料在23°C時(shí)的電阻率值，配上本測(cè)試架后可以擴(kuò)展功能，將本測(cè)試架放入烘箱，可以檢測(cè)該材料在0~180°C溫下，電阻率變化值。

本測(cè)試架有以下點(diǎn)：

1、  性能全符合標(biāo)GB3048.3要求，具有標(biāo)準(zhǔn)尺寸的電流電、電壓電，及加壓系統(tǒng)，樣品盒緣強(qiáng)度大于10¹²Ω。

2、   投資少具有標(biāo)準(zhǔn)接口，能與DP-DB-4型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻儀配套使用，能滿足新老用戶的要求，凡以前已購(gòu)買了DP-DB-4儀器的用戶不必再買儀器烘箱了，應(yīng)用原有儀器設(shè)備省錢省事。

3、   工作可靠，工作溫度范圍大采用強(qiáng)度緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續(xù)長(zhǎng)期工作，為研究分子材料在90~120°C乃至180°C溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。

4、   操作簡(jiǎn)單，使用方便，壽命長(zhǎng)。

附注：DP-DB型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀于1985年通過全鑒定，是全依照標(biāo)GB3048.3-83的要求行的，在20多年運(yùn)用中，儀器幾經(jīng)改，全又有200多家電纜廠、粒廠、研究所、大學(xué)購(gòu)買了本儀器，經(jīng)過漫長(zhǎng)歲月的考核使用后，實(shí)踐充分證明本儀器，測(cè)量精度，性能穩(wěn)定可靠，使用操作方便，是內(nèi)*符合GB3048.3要求的儀器，深受內(nèi)外各交聯(lián)電纜廠，分子材料廠，半導(dǎo)電橡膠廠，校研究所的歡迎，是半導(dǎo)電材料體電阻率性能研究時(shí)的儀器設(shè)備

注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對(duì)應(yīng)的