微電腦膜式氣體流量校準(zhǔn)儀/煙塵（煙氣）流量校準(zhǔn)儀  型號(hào)：DP/DML-2

微電腦膜式氣體流量校準(zhǔn)儀/煙塵（煙氣）流量校準(zhǔn)儀  型號(hào)：DP/DML-2點(diǎn)：動(dòng)態(tài)容積法氣體流量校準(zhǔn)裝置，具有體積小，重量輕，操作方便，顯示直觀的點(diǎn)，是環(huán)保勞動(dòng)衛(wèi)生，科研，工礦等校準(zhǔn)中、小氣體流量計(jì)的儀器。
　　點(diǎn)：不需人工看膜與手動(dòng)計(jì)時(shí)，微電腦自動(dòng)測(cè)量，消除了人為的操作誤差。數(shù)據(jù)自動(dòng)處理，結(jié)果直接顯示，經(jīng)中計(jì)量科學(xué)院檢定出廠。各種參數(shù)可按工況改寫，自動(dòng)換算成標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下的流量。

微電腦膜式氣體流量校準(zhǔn)儀/煙塵（煙氣）流量校準(zhǔn)儀  型號(hào)：DP/DML-2參數(shù)
　　流量范圍： 50~2000mL／min
　　重現(xiàn)性： ≤0.25％
　　精度： 1
　　電源： DC5V（四節(jié)五號(hào)電池）

手持式四探針測(cè)試儀/四探針電阻率儀／方阻儀 型號(hào)：DP-M3
概述      DP-M3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
      成套組成：由DP-M3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
      探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
      
儀器具有測(cè)量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。 
三、基本參數(shù)1. 測(cè)量范圍、分辨率
    電    阻:   0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
    電 阻 率:   0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
    方塊電阻:   0.050～ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 
2. 可測(cè)材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
    直    徑：DP-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm。
    DP-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
    長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.
    測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等
量程（Ω-cm/□） 2.000 20.00 200.0 2.000k 20.00k 
電阻測(cè)試范圍 0.010～2.200 2.000～22.00 20.00～220.0 0.200～2.200k 2.000～50.00k 
電阻率/方阻 0.010/0.050～2.200 2.000～22.00 20.00～220.0 0.200～2.200k 2.000～20.00k 
基本誤差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB
4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈   重：≤0.3kg

手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針電阻率/方阻測(cè)試儀 型號(hào):DP-M2
概述
       DP-M2型手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
      儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
      探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
儀器具有測(cè)量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。 
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
    電    阻：     0.010 ～ 9999Ω,    分辨率0.001 ～ 1 Ω
    電 阻 率：     0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
    方塊電阻：     0.050～ 2000Ω/□   分辨率0.001 ～ 1 Ω/□ 
2. 材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定
   直    徑：DP-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm。
   DP-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
   長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.
   測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等
量程（Ω-cm/□） 9.999 99.99 999.9 9999. 
電阻測(cè)試范圍 0.010～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 999.9～9999 
電阻率/方阻 0.010/0.050～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 999.9～2000 
基本誤差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈   重：≤0.5kg

純水機(jī)/純水儀 型號(hào)：DP27034

產(chǎn)品介紹

結(jié)構(gòu)：
由鐵板、低壓開(kāi)關(guān)、水泵、膜殼、壓開(kāi)關(guān)、反沖壓閥、變壓器、濾瓶蓋、*道濾瓶、第二道濾瓶、第三道濾瓶等部件組成。
規(guī)格參數(shù)：
額定電壓：220V/50Hz
額定功率：28.8W
適用水壓：0.03～0.6Mpa
純水機(jī)工作壓力：≤0.6Mpa
水水溫：4～45℃
產(chǎn)水量：10L/h，水質(zhì)符合GB 6682-1992三。

全功能導(dǎo)電類型鑒定儀/導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀/PN型號(hào)測(cè)定儀 型號(hào):DP-ST13
概述
      DP-ST13型導(dǎo)電類型鑒定儀是運(yùn)用熱電勢(shì)法原理和整流法鑒定半導(dǎo)體導(dǎo)電類型(PN類型)的儀器。
     儀器成套組成：本儀器由主機(jī)和兩套探頭等部件組成。導(dǎo)電類型P或N由數(shù)碼管顯示。探頭由冷、熱兩根配套使用。
      優(yōu)勢(shì)征：
      熱電勢(shì)法中，熱探針具有恒溫可調(diào)功能，以適應(yīng)寬范圍低電阻率導(dǎo)電類型測(cè)試的需要！冷、熱探針都采用即插式，方便更換。
     整流法中，運(yùn)用整流法原理鑒定半導(dǎo)體導(dǎo)電類型的儀器，同時(shí)兼?zhèn)錅y(cè)試重?fù)降墓δ堋?br />     本儀器關(guān)鍵器件采用用集成電路，并采用優(yōu)質(zhì)貼片工藝，儀器具有鑒定范圍寬、靈敏度、穩(wěn)定性好、使用方便等點(diǎn)。適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校等對(duì)寬范圍別是低電阻率半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電類型(PN類型)測(cè)試的需要！ 
三、參數(shù)
1. PN 鑒定范圍：
    熱電勢(shì)法ρ=1×10-4～1.0×103 Ω-cm，整流法  ρ=1×10-2～1.0×104 Ω-cm
2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸：
    PN 鑒定 ：可接觸面 Smin= 3mm*3mm
3. 探頭參數(shù)：
    熱電勢(shì)法  ⑴熱探頭： 溫度調(diào)節(jié)范圍60℃～200℃，探針：鍍鎳“不老頭”
              ⑵冷探頭： 單針式，
    整流法，  鋼針鍍鎳
4. 電源：    
    220V±10%   50Hz，
    功     耗： <20W
5．工作環(huán)境：
    溫    度：   -10℃～40℃ ，相對(duì)濕度：    50%～70%
    工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾
6. 外形尺寸及重量：
    主機(jī)： 175mm（長(zhǎng)）×200 mm（寬）×70mm（）重量： 約1kg

注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對(duì)應(yīng)的