壓力表校驗(yàn)器/壓力表校驗(yàn)儀  型號：DP-CW-6

壓力表校驗(yàn)器/壓力表校驗(yàn)儀  型號：DP-CW-6主要用于計(jì)量室，實(shí)驗(yàn)室以及或科學(xué)實(shí)驗(yàn)環(huán)節(jié)，作為壓力校驗(yàn)裝置使用。

壓力表校驗(yàn)器/壓力表校驗(yàn)儀  型號：DP-CW-6參數(shù)

量程范圍: -0.1~6MPa；壓力校驗(yàn)器上配有手動壓力發(fā)生器，選配響應(yīng)的壓力表或其他壓力標(biāo)準(zhǔn)器可適用于測量上限為 -0.1MPa , 0.1MPa , 0.16 MPa , 0.25 MPa , 0.4 MPa , 0.6 MPa , 1 MPa , 1.6 MPa , 2.5 MPa , 4 MPa , 6MPa 的對象中使用。

雙通道紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UVB
紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UVB
該儀器適用于殺菌、光刻、水處理、醫(yī)療、育種等域的紫外輻照度測量工作。
雙通道紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UVB
主要性能指標(biāo)
 
* 波長范圍及峰值波長（光譜響應(yīng)曲線見圖）
   （1）UV-254探頭
            λ：(230～275)nm；λp=254nm  
   （2）UV-297探頭
            λ：(275～330)nm；λp=297nm
* 輻照度測量范圍
    (0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區(qū)雜光
    UV-254   小于0.1％
    UV-297   小于0.05％
* 準(zhǔn)確度
   ±10％
* 響應(yīng)時(shí)間
   1秒
* 使用環(huán)境
   溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH
* 尺寸和重量
   180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
   6F22型9V積層電池只
 

紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UVB
紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UVB該儀器適用于殺菌、光刻、水處理、醫(yī)療、育種等域的紫外輻照度測量工作。
紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UVB主要性能指標(biāo)
 
* 波長范圍及峰值波長(二者擇其）
  （1）UV-254探頭（光譜響應(yīng)曲線見圖）
           λ：(230～275)nm；λp=254nm
  （2）UV-297探頭（光譜響應(yīng)曲線見圖）
           λ：(275～330)nm；λp=297nm
* 輻照度測量范圍
   (0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區(qū)雜光
   UV-254：小于0.1％
   UV-297：小于0.05％
* 準(zhǔn)確度
   ±10％
* 響應(yīng)時(shí)間
   1秒
* 使用環(huán)境
   溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH
* 尺寸和重量
   180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
  6F22型9V積層電池只

紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UV-A
紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UV-A該儀器適用于光化學(xué)、分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等域的紫外輻照度測量工作。
 
紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀 型號：DP-UV-A主要性能指標(biāo)
 
* 波長范圍及峰值波長（光譜響應(yīng)曲線見圖）
   （1）UV－365探頭
           λ：(320～400)nm； λP＝365nm
   （2）UV－420探頭
           λ：(375～475)nm； λP＝420nm
* 輻照度測量范圍
     (0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區(qū)雜光
    UV365   小于0.02％
    UV420   小于0.02％
* 準(zhǔn)確度
   ±10％
* 響應(yīng)時(shí)間
   1秒
* 使用環(huán)境
   溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH                
* 尺寸和重量
   180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
   6F22型9V積層電池只

紫外輻照計(jì)/紫外照度計(jì)/照度儀  型號：DP-UV-A
該儀器適用于光化學(xué)、分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等域的紫外輻照度測量工作。
主要性能指標(biāo)：
 
* 波長范圍及峰值波長 (二者擇其)
   （1）UV－365探頭（光譜響應(yīng)曲線見圖）
           λ：(320～400)nm； λP＝365nm
   （2）UV－420探頭（光譜響應(yīng)曲線見圖）
           λ：(375～475)nm； λP＝420nm
* 輻照度測量范圍
    (0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區(qū)雜光
     UV365    小于0.02％
     UV420    小于0.02％
* 準(zhǔn)確度
   ±10％
* 響應(yīng)時(shí)間
   1秒
* 使用環(huán)境
   溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH                
* 尺寸和重量
   180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
   6F22型9V積層電池只

注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應(yīng)的