四探針導體/半導體電阻率測量儀    型號：DP-SB100A/2

DP-SB100A/2為原DP-SB100/1及DP-SB100A/1的改型。
 
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電分子材料的電阻及電阻率的測量?？捎糜谛Ｎ锢斫逃龑嶒灒瑢w/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
 
（使用環(huán)境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V  50Hz，為實驗室環(huán)境使用）
 
DP-SB100A/2由DP-SB118直流電壓電流源、DP-PZ158A直流數字電壓表、DP-SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成。
            DP-SB118直流電壓電流源：是臺4½位的電壓源及電流源，既可輸出5µV—50V，5檔可調電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調電流，基本誤差為
±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產品SB118。
l            DP-PZ158A直流數字電壓表：具有6½位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理的精度電子測量儀器，可測量0-1000V直流電壓?；玖砍痰幕菊`差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產品DP-PZ158A。
            DP-SB120/2四探針樣品測試平臺：該測試平臺是DP-SB120/1測試平臺的改型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原DP-SB120/1的基礎上作了很大的改，故在校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。
 
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