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化介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗測試儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號DP-SB2204/3

品       牌亞歐

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2016-12-01 00:26:34瀏覽次數(shù):449次

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化介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗測試儀 型號:DP-SB2204/3
DP-SB2204/3型 化介質(zhì)損耗測試儀是種新穎的測量介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)的自動化儀器。可以在工頻電壓下,現(xiàn)場測量各種緣材料、緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值

化介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗測試儀    型號:DP-SB2204/3

DP-SB2204/3型 化介質(zhì)損耗測試儀是種新穎的測量介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)的自動化儀器??梢栽诠ゎl電壓下,現(xiàn)場測量各種緣材料、緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)。與西林電容電橋相比,具有操作簡單、自動測量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度、抗干擾能力強等優(yōu)點。儀器內(nèi)附標準電容器和升電壓裝置,在“內(nèi)接”方式下使用,無需其它外接設(shè)備,便于攜帶。具有多種測量方式,可選擇正/反接線、內(nèi)/外標準電容器和內(nèi)/外試驗電壓行測量。正接線可測量壓介損。內(nèi)附DP-SF6標準電容器,tgδ<0.005%,受空氣濕度影響小,矢量運算法結(jié)合移相、倒相法,抗干擾效果好;能有效地消除強烈的電場干擾對測量的影響,適用于500kV其以下電站的強干擾現(xiàn)場試驗。
 
      化介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗測試儀    主要點
             壓短路和突然斷電時,儀器能迅速切斷壓,并發(fā)出警告信息。
             測量重復(fù)性好,電壓線性好(測量準確度不受電壓影響)。
             體化結(jié)構(gòu),重量適中,便于攜帶。
             大屏幕帶背光中文液晶顯示器信息提示操作,使用方便。
             儀器自帶打印機,及時保存測試數(shù)據(jù)。
             壓電纜連接至試品,保障安全;儀器未接地報警,安全措施備。
 
      化介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗測試儀      指標
             額定工作條件:溫度0~40℃,相對濕度:30%~85%,供電電源220V±22V  50±1Hz
             外形尺寸:440×330×400mm
             重量:不大于23kg
             功耗:不大于40VA
             測量范圍:介質(zhì)損耗(tgδ) 0~1分辨率0.0001;電容量(Cx):Z小分辨率0.01pF
             內(nèi)接方式:試驗電壓試品電容量5kV 7.5kV 10kV  3pF~40000PF
1.5kV 2.25kV 3Kv  10pF~0.35μF
0.5kV 0.75kV 1kV  30pF~1.5μF
             外接方式:“外接升壓器”方式Z試驗電壓10kV,“外接Cn”方式(外接壓、外接標準電容器)Z試驗電壓由標準電容器和被試品決定(Umax=Imax/ωC)
             標準回路Z大電流50mA(In=UωCn)被試回路Z大電流2A(Ix=UωCx)
             內(nèi)部升壓器輸出能力:輸出電壓額定輸出電流5kV 7.5kV 10kV  100mA;1.5kV 2.25kV 3kV  300mA;0.5kV 0.75kV 1kV  500mA
             基本測量誤差:

測量內(nèi)容
tgδ范圍
電容量范圍(Cx)
試品類型
基本誤差
介質(zhì)損
耗因數(shù)
tgδ
0~0.5
50pF~60000pF
非接地
±(1%讀數(shù)+0.0005)
接地
±(1%讀數(shù)+0.0010)
10pF~50pF或
60000pF以上
非接地
±(1%讀數(shù)+0.0010)
接地
±(2%讀數(shù)+0.002)
3pF~10pF
非接地
與接地
電容量
50pF以上
±(1%讀數(shù)+1pF)
50pF以下
±(1%讀數(shù)+2pF)

 

        工作原理
儀器測量線路包括路標準回路和路被試回路,標準回路由內(nèi)置穩(wěn)定度標準電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由DP-8031單片機運用計算機數(shù)字化實時采集方法,對數(shù)以計的采樣數(shù)據(jù)處理后行矢量運算,分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ),測量結(jié)果可靠?,F(xiàn)場有干擾時,利用移相、倒相法減小干擾的影響,再將被試回路測`得的電流Ix′與單測得的干擾電流Id矢量相加,得到真正的測量電流Ix,而得出正確的測量結(jié)果。由圖3可見,可根據(jù)不同的測量對象和測量需要,靈活地采用多種接線方式。如測量非接地試品(正接法)時,“LV”(E)點接地;而測量接地試品(反接法)時,則“HV”點接地。
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