上海上器集團試驗設(shè)備有限公司
閱讀:247發(fā)布時間:2017-10-12
雙85測試的目的
由于PCB基材的絕緣層是由樹脂與玻璃布所構(gòu)成,當在高電壓狀態(tài)下,通孔與通孔、線路與線路、線路與通孔間形成一個電場,而PCB濕制程很多,水分中或板面清潔不良殘留的電解質(zhì)可能經(jīng)由鉆孔產(chǎn)生的微裂縫順著玻璃纖的方向遷移產(chǎn)生短路,造成絕緣失效,這種現(xiàn)象稱為CAF陽極性玻纖絲的漏電現(xiàn)象。CAF測試通過監(jiān)控測試單元的電阻,當CAF發(fā)生時,絕緣層的絕緣性能下降,電阻也隨之下降,由此可判斷CAF的失效,顧可通過雙85試驗箱測得。電解離子的遷移是需要條件的。高溫高濕加偏壓剛好提供了離子加速遷移的條件
儀表網(wǎng) 設(shè)計制作,未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
請輸入你感興趣的產(chǎn)品
請簡單描述您的需求
請選擇省份