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HAST加速壽命試驗機適用于太陽能光伏、國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封...

PCT高壓加速壽命試驗箱【簡單介紹】　　PCT高壓加速壽命試驗箱為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型...

HAST高壓加速壽命試驗【簡單介紹】　　HAST高壓加速壽命試驗應(yīng)用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的...

HAST加速老化試驗箱【簡單介紹】　　HAST加速老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系...

HAST非飽和加速老化【簡單介紹】　　HAST非飽和加速老化廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。...

HAST非飽和高壓加速老化試驗箱【簡單介紹】　　HAST非飽和高壓加速老化試驗箱廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制...

HAST高壓加速老化試驗箱【簡單介紹】　　HAST高壓加速老化試驗箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或...

HAST試驗箱應(yīng)用范圍：　　HAST試驗箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝...

HAST非飽和高壓加速老化試驗機應(yīng)用范圍：　　HAST非飽和高壓加速老化試驗機的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗...

PCT試驗箱【簡單介紹】　　PCT試驗箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體...

PCT老化試驗箱【簡單介紹】　　PCT老化試驗箱 用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分...

HAST高溫高壓測試儀【簡單介紹】　　HAST高溫高壓測試儀應(yīng)用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計...

HAST高度加速老化試驗箱箱【簡單介紹】　　HAST高度加速老化試驗箱箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗過程，...

PCT高壓加速壽命測試儀【簡單介紹】　　PCT高壓加速壽命測試儀廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密...

PCT老化壽命試驗機【簡單介紹】　　PCT老化壽命試驗機廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 加...

PCT加速老化試驗箱【簡單介紹】　　PCT加速老化試驗箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架...

HAST非飽和高壓加速老化箱應(yīng)用范圍：　　HAST非飽和高壓加速老化箱)主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠...

HAST老化壽命試驗箱應(yīng)用范圍：　　HAST老化壽命試驗箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)...

HAST高壓加速壽命試驗箱【簡單介紹】　　HAST高壓加速壽命試驗箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或...

PCT高溫高濕蒸煮儀【簡單介紹】　　PCT高溫高濕蒸煮儀 用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀...