低溫貯存試驗的用途：

低溫貯存試驗主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。

低溫貯存試驗主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。

低溫貯存試驗規(guī)格與型號：

    型號:TH-80工作室尺寸W×H×D:400×450×400

    型號:TH-150工作室尺寸W×H×D:500×600×500

    型號:TH-225工作室尺寸W×H×D:600×750×500

    型號:TH-408工作室尺寸W×H×D:600×850×800

    型號:TH-800工作室尺寸W×H×D:1000×1000×800

    型號:TH-1000工作室尺寸W×H×D:1000×1000×1000

低溫貯存試驗 特點： 

內(nèi)膽全不銹鋼結(jié)構(gòu)，設(shè)有觀察窗（出口型試驗箱門內(nèi)側(cè)還有一道超厚玻璃門）、進(jìn)口全封閉法國泰康壓縮機(jī)、控制為美國TINKO數(shù)顯儀表，具有程序編寫和控制\PID自動跟蹤檢索整定功能。 

低溫貯存試驗執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：  

GB10589低溫貯存試驗技術(shù)條件 

GB11158高溫試驗箱技術(shù)條件   

低溫貯存試驗的詳細(xì)資料:設(shè)備適用于產(chǎn)品在低溫環(huán)境下檢測其各項性能指標(biāo)。  

低溫貯存試驗箱體結(jié)構(gòu)特點  

箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。  

箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼板和鏡面板，箱體外殼采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。  

大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，三層中空鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。  

箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。 

低溫貯存試驗控制器  

溫度控制采用全進(jìn)口按鍵式儀表，操作設(shè)定簡單。  

根據(jù)不同的試驗要求，可以選擇定值試驗功能，也可以選擇可編程控制功能。  

具有P.I.D自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。  

可選配打印機(jī)。  

低溫貯存試驗冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)  

制冷機(jī)采用法國原裝“泰康”或者“谷輪”制冷系統(tǒng)。冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。升溫、降溫、系統(tǒng)*獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。  

符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001

： www.ytlrcjx.com                    

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低溫貯存試驗