高溫低溫試驗(yàn)箱用途：

是電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測(cè)試工具.
高溫低溫試驗(yàn)箱保護(hù)系統(tǒng)：
控制器設(shè)定錯(cuò)誤故障顯示及警示。

系統(tǒng)控制回路保險(xiǎn)絲。
系統(tǒng)過電流保護(hù)裝置。
附有無熔絲保護(hù)開關(guān)。
超溫保護(hù)裝置。
冷凍壓縮機(jī)過負(fù)載保護(hù)裝置。
壓縮機(jī)高低壓保護(hù)開關(guān)。
欠相保護(hù)開關(guān)。
故障指示燈。
緊急停止開關(guān)。
高溫低溫試驗(yàn)箱參數(shù)

內(nèi)箱尺寸：40×35×30cm
高溫槽溫度范圍：RT-100℃
低溫槽濕度范圍：-40℃～-10℃
試驗(yàn)箱沖擊溫度：高溫:RT-100℃ ；低溫: -10℃～-40℃
升溫時(shí)間：RT-100℃約需15分鐘
降溫時(shí)間：RT～-40℃約需60分鐘
沖擊時(shí)間:0.1～999.9小時(shí),循環(huán)周期1～9999可設(shè)定.
沖擊恢復(fù)時(shí)間：高溫（100℃）沖擊30分鐘,低溫（-40℃）沖擊30分鐘；沖擊恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以內(nèi).
試樣重量：1.5kg（www.kcshwhs.com）
配    件：測(cè)試孔（φ50×1只），試料架（2組）