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高溫老化試驗室環(huán)境試驗箱*

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品       牌艾思荔/Asli

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地東莞市

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更新時間:2021-03-26 16:37:53瀏覽次數(shù):999次

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環(huán)境實驗室可為用戶批量檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或大型部件等提供一個模擬環(huán)境,為測試數(shù)據(jù)的準確性和*性(可重復(fù))提供*條件。該產(chǎn)品具有簡單的操作性能和可靠的設(shè)備性能,便捷操作的計測裝置,溫度控制器,采用的中文液晶顯示畫面觸摸屏,可進行各種復(fù)雜的程序設(shè)定,程序設(shè)定采用對話方式,操作簡單、迅速。整體在客戶方進行裝配,運輸擺放方便,并在客戶方進行現(xiàn)場調(diào)試和驗收,保證在客戶方的使用性能

高溫老化試驗室系統(tǒng)介紹  

環(huán)境實驗室可為用戶批量檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或大型部件等提供一個模擬環(huán)境,為測試數(shù)據(jù)的準確性和*性(可重復(fù))提供*條件。該產(chǎn)品具有簡單的操作性能和可靠的設(shè)備性能,便捷操作的計測裝置,溫度控制器,采用的中文液晶顯示畫面觸摸屏,可進行各種復(fù)雜的程序設(shè)定,程序設(shè)定采用對話方式,操作簡單、迅速。整體在客戶方進行裝配,運輸擺放方便,并在客戶方進行現(xiàn)場調(diào)試和驗收,保證在客戶方的使用性能;結(jié)構(gòu)一體化程度高,在客戶端裝配調(diào)試時間短;科學的空氣流通設(shè)計,使室內(nèi)溫度均勻,避免任何死角;完備的安全保護裝置,避免了任何可能發(fā)生的安全隱患,保證設(shè)備的*可靠性;每個產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做,保證了設(shè)備的高效,節(jié)能。 

高溫老化試驗室技術(shù)參數(shù):  

1、型號規(guī)格TH-100工作室尺寸D×W×H450×450×500:mm  

2、溫度范圍:0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃~150℃  

3、溫度波動度:≤±0.5℃(空載時)  

4、溫度均勻度:≤±2℃(空載時)  

5、升溫速率:1.0~3.0℃/min(升溫速率可按客戶要求特殊定制)  

6、降溫速率:0.7~1.2℃/min(降溫速率可按客戶要求特殊定制)  

7、溫度偏差:≤±2℃  

8、時間設(shè)定范圍:0~999h  

9、樣品托架:2層(標配)   

高溫老化試驗室控制系統(tǒng)  

設(shè)置方式:觸摸,點擊  

顯示方式:彩色LCD點陣式觸摸屏中文顯示  

設(shè)定、顯示分辨率:溫度(0.1℃);時間(1min)  

圖形顯示:完整顯示設(shè)定程序曲線。  

設(shè)置參數(shù)保存時間:充滿電后,數(shù)據(jù)可保存5年。  

程序數(shù):1~499(大499個程序)。  

程序段:每個程序1~64段;可按組連接運行。  

能自動提示用戶正確設(shè)置溫度、時間參數(shù)。  

有的維護界面,用于調(diào)試設(shè)備和維護設(shè)備具有程序運行保持功能。  

具有程序運行等待功能。  

具有程序跳段功能。  

具有程序停止功能。  

有斷電恢復(fù)功能。  

具有運行界面鎖定功能。記錄功能:可記錄100天內(nèi)的曲線及實驗數(shù)據(jù),可以詳細查詢100天內(nèi)每一時刻的溫度度情況,可用USB2.0導出,在PC機上打印記錄曲線和生成數(shù)據(jù)報表(相當于無紙記錄儀的功能)具有開機故障自檢功能。  

計算機監(jiān)控系統(tǒng):控制系統(tǒng)通過計算機以太網(wǎng)通訊接口,可實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸及監(jiān)控功能。  

注:并提供日后軟件免費升級  

高溫老化試驗室風道系統(tǒng)  

為保證較高的均勻度指標,試驗箱設(shè)有內(nèi)部循環(huán)送風系統(tǒng)及風道。工作室一端的風道夾層內(nèi),分布加熱器、風葉等裝置。采用多臺風機使箱內(nèi)空氣循環(huán),當風機運行時,將工作室中空氣從下部吸入風道內(nèi),經(jīng)加熱后從均勻地吹出,在工作室中與試品交換后的空氣再被吸入風道內(nèi),反復(fù)循環(huán),從而達到溫度設(shè)定要求

高溫老化試驗室參照標準

本試驗箱符合GB/T2423.1 低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法。

GJB 150.3高溫試驗;GJB 150.4 低溫試驗;

GB10588-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件;

GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件;

GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件;

QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標準中所要求的試驗

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