LED高低溫試驗箱產(chǎn)品說明:  

    高低溫試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗。  

LED高低溫試驗箱型號規(guī)格:  

1.型號:TH-80  

內(nèi)箱尺寸:（寬*高*深mm）400×500×400  

2.型號:TH-150  

內(nèi)箱尺寸:（寬*高*深mm）500×600×500  

外箱尺寸:（寬*高*深mm）1070×1450×1070  

3.型號:TH-225  

內(nèi)箱尺寸:（寬*高*深mm）500×750×600  

外箱尺寸:（寬*高*深mm）1070×1610×1180

主要技術(shù)指標(biāo)：

1.高溫區(qū)溫度范圍：+60℃— +200℃

2.預(yù)熱上限：200℃

3.升溫時間：室溫—+200℃，≤60min

4.低溫區(qū)溫度調(diào)節(jié)范圍：-70℃— -10℃

5.降溫時間：室溫—-70℃，≤60min

LED高低溫試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

　GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法低溫試驗》

　　MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》

　　GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》

　　GJB4.3-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗低溫試驗》

　　GJB4.4-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗低溫貯存試驗》

　　GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.27低溫試驗

　　GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分：試驗方法試驗A：低溫》

　　SJ/T10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.4低溫負(fù)荷試驗

　　SJ/T10325-92《汽車收放》

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