平板電腦主板PCT試驗(yàn)機(jī)|通訊環(huán)境試驗(yàn)箱|指示燈具HAST非飽和老化箱主要為電子零部件、工業(yè)材料、成品在研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)各環(huán)節(jié)的試驗(yàn)提供恒定濕熱，復(fù)雜高低溫交變等試驗(yàn)環(huán)境和試驗(yàn)條件，適用于電子電器、通訊、五金、橡膠、家具、玩具、航天、、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、科研等各行業(yè)和單位。  

平板電腦主板PCT試驗(yàn)機(jī)|通訊環(huán)境試驗(yàn)箱|指示燈具HAST非飽和老化箱主要特點(diǎn)：  

●試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方。  

●零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有水平的*件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證用戶長(zhǎng)時(shí)間、高頻率的使用要求。  

●人機(jī)對(duì)話式觸摸屏輸入系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，功能強(qiáng)大；  

●可設(shè)定程序100組，1000段，循環(huán)次數(shù)可達(dá)999次，每段時(shí)間大設(shè)定99小時(shí)59分；  

●具有RS232通信接口，可通過(guò)PC隨意控制和監(jiān)視，還可選配RS485接口，使用便捷；  

●具有程序修正、清除、預(yù)約、啟動(dòng)、停電、記憶、按鍵鎖定等功能；  

●具有多種報(bào)警功能，故障發(fā)生同時(shí)，可通過(guò)屏幕故障顯示，消除故障；  

●*送風(fēng)循環(huán)設(shè)計(jì)，溫濕度分布均勻性佳；  

●具有自動(dòng)防霜裝置的真空雙重玻璃，可清晰觀察試驗(yàn)箱內(nèi)的試品；

A、<規(guī)格參數(shù)>：  

內(nèi)尺寸：1000*1000*1000mm(W*H*D)  

溫度范圍：-40℃～+150℃(可選擇)  

濕度范圍：20%～98%RH  

B、<設(shè)備性能>：  

測(cè)試環(huán)境：環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下。  

測(cè)試方法：GB/T5170.2-2008溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.5-2008濕熱試驗(yàn)設(shè)備  

升溫時(shí)間：RT～+150℃/40min（3℃/min非線性空載）  

降溫時(shí)間：RT～-40℃/60min（0.75~1℃/min非線性空載）  

溫度波動(dòng)度：≤0.2℃（注：如按GB/T5170.2-1996表示，波動(dòng)度為≤±0.25℃）  

溫度均勻度：±2.0℃  

濕度波動(dòng)度：±2.0%RH  

濕度均勻度：±3.0%RH    

恒溫恒濕試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

　　1．GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　2．GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　3．GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　4．GB/T10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　5．GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　6．GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　7．GB/T2423.3-93濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　8．GB/T2423.4-93交變濕熱試驗(yàn)方法

　　9．GB/T2423.22-2001溫度變化試驗(yàn)方法

　　10．IEC60068-2-1.1990低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　11．IEC60068-2-2.1974高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　12．GJB150.3高溫試驗(yàn)

　　13．GJB150.4低溫試驗(yàn)

    14．GJB150.9濕熱試驗(yàn)

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