貴陽非飽和高壓加速試驗(yàn)機(jī):  :

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》  

GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》  

GB/T2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》  

GB/T2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）》  

GB/T2423.50-1999《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)》  

GB/T2423.10-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）》  

GB/T2423.56-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則》  

GB/T2423.58-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fi:振動(dòng)混合模式》 

東莞艾思荔【.pct-asli.】采取了新的制冷能量調(diào)節(jié)技術(shù)，在做低溫恒定試驗(yàn)過程中，不需要加熱來進(jìn)行溫度（冷熱）平衡，降低了壓縮機(jī)與冷凝器的熱效應(yīng)產(chǎn)生，減少了通過冷卻塔向大氣排放熱量（溫室效應(yīng)），降低了對(duì)大氣環(huán)境的污染，達(dá)到環(huán)保的目的。在低溫狀態(tài)下做恒溫試驗(yàn)時(shí)，由于采用是新的制冷能量調(diào)節(jié)技術(shù)，是對(duì)制冷量進(jìn)行調(diào)節(jié)，加濕用水控制更合理，用水量明顯減少，同時(shí)減小了廢水的排放。  .gdwcjx. 

PCT高壓老化試驗(yàn)設(shè)備  PCT高壓加速老化箱  pct測(cè)試儀

高溫高壓蒸煮儀  PCT老化試驗(yàn)箱   PCT高壓老化試驗(yàn)機(jī)

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