通過低氣壓老化箱進行的技術(shù)研究,將可以滿足端技術(shù)如宇航、電子、兵器等的發(fā)展對該試驗箱的需求。開展對該試驗箱的研制,可以*國內(nèi)對該產(chǎn)品的空白,擴大公司對此種試驗箱的應(yīng)用市場,同時縮短國內(nèi)在該領(lǐng)域與國外的差距,盡早實現(xiàn)低氣壓老化箱的工業(yè)化生產(chǎn)。
低氣壓試驗箱是測檢產(chǎn)品在高溫、低溫與低氣壓的環(huán)境下變化后參數(shù)的及性能。目前有關(guān)低氣壓試驗箱的低氣壓試驗的標準有:
GB2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》
GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》
GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》
GB2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》
GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則》
在GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則》中主要對溫度、低氣壓的適用范圍,綜合影響試驗設(shè)備等進行了闡述。
而在GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》中對試驗方法,嚴酷等級、試驗?zāi)康模瑮l件試驗進行了具體規(guī)范。
艾思荔試驗設(shè)備有限公司是一家集科研、設(shè)計及制造各類模擬環(huán)境試驗設(shè)備的專業(yè)性企業(yè)。公司在競爭中不斷探索,不斷超越,從小到大,由弱到強。主要產(chǎn)品有恒溫恒濕、冷熱沖擊、跌落試驗機、振動試驗臺、鹽霧試驗機等設(shè)備。想了解更多設(shè)備的實驗意義及相關(guān)標準,歡迎關(guān)注艾思荔儀器!
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